[发明专利]一种中性粒子分析器及分析电磁场和探测面的布置方法在审

专利信息
申请号: 202010595409.8 申请日: 2020-06-28
公开(公告)号: CN111694045A 公开(公告)日: 2020-09-22
发明(设计)人: 臧临阁;屈玉凡 申请(专利权)人: 核工业西南物理研究院
主分类号: G01T5/00 分类号: G01T5/00;H01J49/06
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 高安娜
地址: 610041 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 中性 粒子 分析器 分析 电磁场 探测 布置 方法
【权利要求书】:

1.一种中性粒子分析器,其特征在于:包括磁场区(1)、电场区(2)和自由飞行区(3);

所述的磁场区(1)为直角倒梯形,直角梯形长边位于一侧,离子入射方向垂直磁力线方向;

所述的电场区(2)为倒梯形;所述的电场区(2)倒梯形斜边与磁场区(1)的直角倒梯形斜边平行,两者之间具有间隙,形成绝缘区(5);

所述的电场区(2)的外侧设置探测面(4);

所述的探测面(4)位于电场区2上下两边延长线之间;

电场区(2)的边缘、电场区(2)上下两边的延长线、探测面(4)所包围的区域形成自由飞行区(3);探测面(4)安装在自由飞行区(3)边界;

将磁场区(1)、电场区(2)、绝缘区(5)和探测面(4)均置于真空环境下。

2.如权利要求1所述的一种中性粒子分析器,其特征在于:所述的磁场区(1)和电场区(2)分别为磁铁和静电极板,磁铁为直角倒梯形,静电极板为倒梯形,两个梯形斜边平行。

3.如权利要求2所述的一种中性粒子分析器,其特征在于:所述的直角倒梯形长边20cm,短边7cm,高度30cm;所述的倒梯形的长边10cm,短边2cm,高度30cm;所述的电场区(2)倒梯形斜边与磁场区(1)的直角倒梯形斜边平行,两边相隔1cm;所述的自由飞行区(3)为倒梯形,长边为19.2cm,短边为8cm。

4.如权利要求2所述的一种中性粒子分析器,其特征在于:所述的磁铁和静电极板通过同一平面壁进行支撑固定。

5.一种中性粒子分析器分析电磁场和探测面的布置方法,其特征在于:包括如下步骤:

1)设计磁场区(1)

磁场区(1)为直角倒梯形,直角梯形长边位于一侧,离子入射方向垂直磁力线;

2)设计电场区(2)

电场区(2)采用倒梯形设计

3)磁场区(1)和电场区(2)之间形成绝缘区(5)

电场区(2)倒梯形斜边与磁场区(1)的直角倒梯形斜边平行

4)电场区(2)的外侧设置探测面4,电场区(2)的边缘、电场区(2)上下两边的延长线、探测面(4)所包围的区域形成自由飞行区(3);

将磁场区(1)、电场区(2)、绝缘区(5)和探测面(4)均置于真空环境下;

自由飞行区(3)的尺寸形状根据与飞行单元的磁场区(1)和电场区(2)尺寸关系确定需满足l1(l1+2l2)/p2=c

其中,l1为离子在垂直于磁场方向上在电场区(2)的飞行轨迹长度;l2为同一动量的离子在垂直于磁场方向上,在自由飞行区(3)中的飞行轨迹长度,p为离子动量,c为分析器本身所决定的常数;

5)确定自由飞行区(3)的边界,即探测面(4)的位置;

5.1)确定E=80keV的D+离子在垂直于磁场方向上在电场区(2)的飞行轨迹长度l1、同一动量的离子在垂直于磁场方向上,在自由飞行区(3)中的飞行轨迹长度l2、飞行轨迹在自由飞行区(3)边界交点D的坐标和常数c;

5.2)确定E=20keV的D+飞行轨迹中与磁场区(1)、电场区(2)、自由飞行区(3)边界的交点A′、B′、C′,根据确定的常数c,求出其在自由飞行区(30中的飞行轨迹长度l2′,由此得出E=20keV的D+飞行轨迹在自由飞行区(3)边界交点D′坐标;

5.3)根据求得的D、D′坐标,得出自由飞行区(3)边界的方程,由此得到自由飞行区(3)上下宽度,根据此宽度,将探测面(4)布置于自由飞行区的边界。

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