[发明专利]一种M-Z型光强度调制器半波电压的测量方法有效
| 申请号： | 202010596242.7 | 申请日： | 2020-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN111707360B | 公开（公告）日： | 2023-03-31 |
| 发明（设计）人： | 李淼淼;胡红坤;华勇;张鸿举;吴巧 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十四研究所 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42;G01J1/44 |
| 代理公司： | 重庆乐泰知识产权代理事务所(普通合伙) 50221 | 代理人： | 袁泉 |
| 地址： | 400060 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 强度 调制器 电压 测量方法 | ||
1.一种M-Z型光强度调制器半波电压的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤S1、将待测M-Z型光强度调制器的输入光口通过光纤连接至光源，输出光口通过光纤连接至光功率计，电压端口电连接至波形发生器；
步骤S2、通过波形发生器对待测M-Z型光强度调制器施加直流偏压，调节直流偏压使待测M-Z型光强度调制器的输出光功率位于极大值区域，所述极大值区域为输出光功率值大于半功率点的区域；其中，对待测M-Z型光强度调制器施加直流偏压后，其两臂光路产生的相位差θ满足以下条件：
cos(θ)≠0；
步骤S3、调节波形发生器的输出信号，使其在当前输出直流偏压的基础上叠加一个峰峰值为0的方波信号；
步骤S4、逐渐增大方波信号的峰峰值，使光功率计的显示值逐渐减小，当光功率计的显示值减小至极小值时，记录方波信号当前的峰峰值；
步骤S5、根据记录的方波信号当前的峰峰值计算待测M-Z型光强度调制器的半波电压。
2.根据权利要求1所述的一种M-Z型光强度调制器半波电压的测量方法，其特征在于，所述方波信号的频率大于光功率计的采样频率。
3.根据权利要求1所述的一种M-Z型光强度调制器半波电压的测量方法，其特征在于，在所述步骤S5中，计算待测M-Z型光强度调制器的半波电压的公式为：
其中，Vπ表示待测M-Z型光强度调制器的半波电压，Vppπ表示在执行步骤S4时记录的方波信号的峰峰值。
4.一种M-Z型光强度调制器半波电压的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤S1'、将待测M-Z型光强度调制器的输入光口通过光纤连接至光源，输出光口通过光纤连接至光功率计，电压端口电连接至波形发生器；
步骤S2'、通过波形发生器对待测器件施加直流偏压，调节待测M-Z型光强度调制器的输出光功率位于极小值区域，所述极小值区域为输出光功率值小于半功率点的区域；其中，对待测M-Z型光强度调制器施加偏置电压后，其两臂光路产生的相位差θ满足以下条件：
cos(θ)≠0；
步骤S3'、调节波形发生器的输出信号，使其在当前输出直流偏压的基础上叠加一个峰峰值为0的方波信号；
步骤S4'、逐渐增大方波信号的峰峰值，使光功率计的显示值逐渐增大，当光功率计的显示值增大至极大值时，记录方波信号当前的峰峰值；
步骤S5'、根据记录的方波信号当前的峰峰值计算待测M-Z型光强度调制器的半波电压。
5.根据权利要求4所述的一种M-Z型光强度调制器半波电压的测量方法，其特征在于，所述方波信号的频率大于光功率计的采样频率。
6.根据权利要求4所述的一种M-Z型光强度调制器半波电压的测量方法，其特征在于，在所述步骤S5'中，计算待测M-Z型光强度调制器的半波电压的公式为：
其中，Vπ表示待测M-Z型光强度调制器的半波电压，Vppπ'表示在执行步骤S4'时记录的方波信号的峰峰值。
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