[发明专利]信息处理设备以及用于粒子模拟的方法和系统在审
申请号: | 202010597103.6 | 申请日: | 2020-06-28 |
公开(公告)号: | CN112182942A | 公开(公告)日: | 2021-01-05 |
发明(设计)人: | 畠中耕平;诹访多闻;风间正喜 | 申请(专利权)人: | 富士通株式会社 |
主分类号: | G06F30/25 | 分类号: | G06F30/25 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王萍;杨林森 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 信息处理 设备 以及 用于 粒子 模拟 方法 系统 | ||
1.一种信息处理设备,包括:
存储单元,其用于存储与属于第一区域的第一粒子相关联的第一接触数据,所述第一接触数据指示在第一时间处与所述第一粒子接触的一个或更多个接触粒子以及在形成接触之后直到所述第一时间的接触时段上发生的所述第一粒子相对于所述接触粒子中的每个接触粒子的累积位移;以及
处理单元,其用于执行包括以下的处理:
计算指示在所述第一时间之后的第二时间处属于所述第一区域的粒子的位置的第一位置数据,以及从不同的信息处理设备获取指示在所述第二时间处属于第二区域的粒子的位置的第二位置数据,所述第二区域与所述第一区域接界,
基于根据所述第一接触数据和所述第一位置数据获得的计算结果来检测第二粒子,所述第二粒子在所述第一时间处与所述第一粒子接触并属于所述第一区域并且在所述第二时间处属于所述第一区域,
基于所述第一位置数据检查所述第一粒子和所述第二粒子在所述第二时间处是否彼此接触,并且在所述第一粒子和所述第二粒子在所述第二时间处接触的情况下,将所述第二粒子的累积位移从所述第一接触数据复制到与所述第二时间相对应的第二接触数据,
基于所述第一位置数据和所述第二位置数据检测第三粒子,所述第三粒子是除了所述第二粒子以外的各自属于所述第一区域或所述第二区域并且在所述第二时间处与所述第一粒子接触的粒子,以及
在所述第一接触数据中搜索所述第三粒子,并且当每个所述第三粒子被登记在所述第一接触数据中时,将所登记的第三粒子的累积位移从所述第一接触数据复制到所述第二接触数据。
2.根据权利要求1所述的信息处理设备,其中:
所述第一接触数据使用在所述第一时间处各自分配给每个粒子的第一标识信息来用于粒子识别,并且所述第一位置数据使用在所述第二时间处各自分配给每个粒子的第二标识信息来用于粒子识别,
所述第一位置数据的计算包括针对在所述第一时间处属于所述第一区域并且在所述第二时间处属于所述第一区域的粒子生成表示所述第一标识信息与所述第二标识信息之间的映射的映射数据,以及
所述第二粒子的检测包括在所述映射数据中搜索与所述第一接触数据中包括的所述第一标识信息中的每个第一标识信息相对应的所述第二标识信息中的一个第二标识信息。
3.根据权利要求2所述的信息处理设备,其中:
所述第一接触数据还使用各自分配给每个粒子并且在所述第一时间与所述第二时间之间保持不变的第三标识信息来用于粒子识别,所述第一位置数据和所述第二位置数据包括所述第三标识信息,以及
所述第三粒子的搜索包括通过使用所述第三标识信息从所述第一接触数据中搜索所述第三粒子。
4.根据权利要求1所述的信息处理设备,其中:
所述第一接触数据包括与属于所述第一区域的一个或更多个接触粒子相对应的第一目标区域数据以及与属于所述第二区域的一个或更多个接触粒子相对应的第一相邻区域数据,
所述第二接触数据包括与属于所述第一区域的一个或更多个接触粒子相对应的第二目标区域数据以及与属于所述第二区域的一个或更多个接触粒子相对应的第二相邻区域数据,
所述第二粒子的检测包括基于根据所述第一目标区域数据和所述第一位置数据获得的计算结果来检测所述第二粒子,以及
所述第二粒子的累积位移的复制包括将所述第二粒子的位移从所述第一目标区域数据复制到所述第二目标区域数据。
5.根据权利要求1所述的信息处理设备,其中:
所述第一接触数据包括与属于所述第一区域的一个或更多个接触粒子相对应的第一目标区域数据以及与属于所述第二区域的一个或更多个接触粒子相对应的第一相邻区域数据,
所述第二接触数据包括与属于所述第一区域的一个或更多个接触粒子相对应的第二目标区域数据以及与属于所述第二区域的一个或更多个接触粒子相对应的第二相邻区域数据,以及
当每个所述第三粒子在所述第二时间处属于所述第一区域时,所述第三粒子的搜索包括在所述第一相邻区域数据中搜索所述第三粒子,并且所述第三粒子的累积位移的复制包括在所述第三粒子被登记在所述第一相邻区域数据中的情况下将所登记的第三粒子的累积位移从所述第一相邻区域数据复制到所述第二目标区域数据。
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