[发明专利]PON光模块检测装置及测试系统在审

专利信息
申请号: 202010599491.1 申请日: 2020-06-28
公开(公告)号: CN113852881A 公开(公告)日: 2021-12-28
发明(设计)人: 汤朝辉 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: H04Q11/00 分类号: H04Q11/00;H04B10/079
代理公司: 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 代理人: 王斌
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: pon 模块 检测 装置 测试 系统
【说明书】:

发明实施例公开了一种PON光模块检测装置及测试系统。该PON光模块检测装置,包括:处理单元、第一光模块单元、第二光模块单元和光衰减单元,其中:所述第一光模块单元和所述第二光模块单元相互作为对方的检测方和待测方;所述光衰减单元设置在所述第一光模块单元和所述第二光模块单元之间通信连接于所述处理单元,并且基于所述处理单元发送的控制指令控制链路的光功率;所述处理单元发送测试指令至所述第一光模块单元和所述第二光模块单元以对所述待测方进行测试,结构简单价格适中,并且使用方便。

技术领域

本发明实施例涉及光通信测试技术领域,尤其涉及一种PON光模块检测装置及测试系统。

背景技术

无源光网络PON由光线路终端OLT、光网络单元ONU和光分配网ODN三部分组成,具有性能优越、运维成本低的特点。目前主流的PON技术有EPON、10GEPON、GPON、XGPON、XGSPON、Combo PON等。PON光模块是PON的重要组成部分,在OLT、ONU设备上均有使用,其性能的优劣直接影响PON的性能。目前常用的PON光模块主要有XFP、SFP、SFP+三种封装模式。

PON光模块的指标测试主要由模块厂商完成,使用较为昂贵的仪表,搭建的环境复杂,测试周期长,PON光模块的用户往往缺少专有的测试装置。因此,需要一种结构简单价格适中,并且使用方便的PON光模块检测装置成为亟待解决的问题。

发明内容

本说明书一个或多个实施例的目的是提供一种PON光模块检测装置及测试系统,结构简单价格适中,并且使用方便。

为解决上述技术问题,本说明书一个或多个实施例是这样实现的:

第一方面,提供了一种PON光模块检测装置,包括:处理单元、第一光模块单元、第二光模块单元和光衰减单元,其中:所述第一光模块单元和所述第二光模块单元相互作为对方的检测方和待测方;所述光衰减单元设置在所述第一光模块单元和所述第二光模块单元之间通信连接于所述处理单元,并且基于所述处理单元发送的控制指令控制链路的光功率;所述处理单元发送测试指令至所述第一光模块单元和所述第二光模块单元以对所述待测方进行测试。

第二方面,提出了一种PON光模块测试系统,包括上位机和如上文所述的PON光模块检测装置,所述PON光模块检测装置并联连接至所述上位机。

由以上本说明书一个或多个实施例提供的技术方案可见,本发明实施例提供的PON光模块检测装置可以模拟PON链路,该PON链路上设置的光衰减单元可以控制链路上的光功率来模拟不同PON链路上的损耗,链路上设置的第一光模块单元和第二光模块单元相互作为对方的检测方和待测方,可以在对待测方进行测试时检测方作为测试工具参与到测试中,整个PON光模块检测装置的测试流程由处理单元进行统一控制。可以看出该PON光模块检测装置结构简单价格适中,不需要搭建复杂的测试环境,另外采用该PON光模块检测装置进行检测时可以通过处理单元实现自动测试,使用方便测试快捷。每个PON光模块检测装置可以通过以太网接口网络连接至上位机,从而可以实现批量部署PON光模块检测装置,实现光模块的大批量测试。

附图说明

为了更清楚地说明本说明书一个或多个实施例或现有技术中的技术方案,下面将对一个或多个实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本说明书中记载的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供一种PON光模块检测装置的框架图。

图2是本发明实施例提供另一种PON光模块检测装置的框架图。

图3是本发明实施例提供又一种PON光模块检测装置的框架图。

图4是本发明实施例提供又一种PON光模块检测装置的框架图。

图5是本发明实施例提供又一种PON光模块检测装置的框架图。

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