[发明专利]辐射制冷功率的测量装置及系统

权利要求书

1.一种辐射制冷功率的测量装置，其特征在于，所述辐射制冷功率的测量装置包括：

容器，具有测量腔室；

大气逆辐射模拟组件，设于所述测量腔室内，用于模拟大气层对地球的逆辐射；所述大气逆辐射模拟组件包括大气逆辐射模拟层、恒温器及连接所述恒温器的恒温管，所述恒温管覆盖于所述大气逆辐射模拟层的外表面；所述大气逆辐射模拟层的温度大于待测材料的温度；

大气窗口模拟组件，设于所述测量腔室内，用于模拟大气窗口；

其中，所述大气窗口模拟组件及大气逆辐射模拟组件用于覆盖待测材料的半球空间，所述大气窗口模拟组件及大气逆辐射模拟组件共同模拟大气层在全部波段的辐射条件。

2.根据权利要求1所述的辐射制冷功率的测量装置，其特征在于，所述大气窗口模拟组件包括大气窗口模拟层、制冷机及连接所述制冷机的冷却管，所述冷却管覆盖于所述大气窗口模拟层的外表面。

3.根据权利要求2所述的辐射制冷功率的测量装置，其特征在于，所述大气窗口模拟层对0.3μm～2.5μm及8μm～13μm波段光的吸收率大于90%，对其余波段光的反射率大于90%。

4.根据权利要求2所述的辐射制冷功率的测量装置，其特征在于，所述大气窗口模拟层包括位于内侧的第一大气窗口模拟层及位于外侧的第二大气窗口模拟层，所述第一大气窗口模拟层对0.3μm～2.5μm波段光的透过率大于90%，对8μm～13μm波段光的吸收率或辐射率大于90%；所述第二大气窗口模拟层对0.3μm～2.5μm波段光的吸收率或辐射率大于90%，对2.5μm～25μm波段光的反射率大于90%。

5.根据权利要求4所述的辐射制冷功率的测量装置，其特征在于，所述第一大气窗口模拟层为氟化锂层、聚氟乙烯层中的至少一种；所述第二大气窗口模拟层为镍氧化后的不锈钢层、镀黑色硫化物的金属层、镀黑铬的金属层中的至少一种。

6.根据权利要求1所述的辐射制冷功率的测量装置，其特征在于，所述大气逆辐射模拟层对0.3μm～25μm波段光的发射率大于90%，对0.3μm～25μm波段光的吸收率大于90%。

7.根据权利要求1所述的辐射制冷功率的测量装置，其特征在于，所述大气逆辐射模拟层为黑色材料层。

8.根据权利要求1至7任一项所述的辐射制冷功率的测量装置，其特征在于，所述容器的周壁具有真空腔。

9.根据权利要求1至7任一项所述的辐射制冷功率的测量装置，其特征在于，还包括太阳光模拟器，所述太阳光模拟器发射的光能够照射在所述待测材料的表面。

10.根据权利要求1至7任一项所述的辐射制冷功率的测量装置，其特征在于，还包括测量组件，所述测量组件包括温度采集元件及用于加热所述待测材料的加热件，所述温度采集元件用于测量所述待测材料的温度。

11.根据权利要求10所述的辐射制冷功率的测量装置，其特征在于，所述测量组件还包括用于放置所述待测材料的金属板，所述金属板背离所述待测材料的表面与所述加热件接触。

12.根据权利要求11所述的辐射制冷功率的测量装置，其特征在于，还包括程控电源、数据采集元件及计算机，所述程控电源分别与所述加热件及所述计算机电连接，所述数据采集元件分别与所述温度采集元件及所述计算机通信连接。

13.一种辐射制冷功率的测量系统，其特征在于，包括待测材料及权利要求1至12任一项所述的辐射制冷功率的测量装置，所述待测材料朝向所述大气逆辐射模拟组件及大气窗口模拟组件设置。