[发明专利]显示装置的修复系统

说明书

本发明提供能够减少无机发光元件的连接不良的显示装置的修复系统。显示装置的修复系统为具有阵列基板、和在阵列基板排列的多个无机发光元件的系统，该显示装置的修复系统具备：隔着多个无机发光元件与阵列基板相对置的检查用基板；检查用电极，其设在检查用基板的与阵列基板相对置的面，与多个无机发光元件电连接；加压装置，其对检查用基板朝向多个无机发光元件进行加压；以及判断多个无机发光元件各自的点亮状态的控制电路。

技术领域

本发明涉及显示装置的修复系统。

背景技术

近年来，作为显示元件，使用了无机发光二极管(微LED(micro LED))即无机发光元件的无机EL显示器受到瞩目。例如在专利文献1中记载了用于进行无机发光元件的点亮检查的检查夹具。

现有技术文献

专利文献1：中国专利申请公开第109686828号说明书

发明内容

在将无机发光元件安装在阵列基板上时，可能会产生阵列基板上的电极与无机发光元件的连接不良。要求显示装置的修复系统检测出连接不良的无机发光元件、以及使检测出的连接不良的无机发光元件成为合格品。

本发明是鉴于上述课题而提出的，其目的在于提供一种能够减少无机发光元件的连接不良的显示装置的修复系统。

本公开的一个方式的显示装置的修复系统为具有阵列基板和在所述阵列基板上排列的多个无机发光元件的显示装置的修复系统，其具备：隔着多个所述无机发光元件与所述阵列基板相对置的检查用基板；检查用电极，其设在所述检查用基板的与所述阵列基板相对置的面，与多个所述无机发光元件电连接；加压装置，其对所述检查用基板朝向多个所述无机发光元件进行加压；以及控制电路，其判断多个所述无机发光元件各自的点亮状态。

附图说明

图1是示出第1实施方式的显示装置的构成例的平面图。

图2是示出多个像素的平面图。

图3是示出显示装置的像素电路的构成例的电路图。

图4是图1的IV－IV’剖视图。

图5是示出第1实施方式的发光元件的构成例的剖视图。

图6是说明第1实施方式的发光元件的层叠方法的图。

图7是示出第1实施方式的修复系统的构成例的框图。

图8是示出第1实施方式的修复系统的修复方法的流程图。

图9是示出第1实施方式的检查用基板以及加压装置的剖视图。

图10是示出第1实施方式的发光元件的构成例的平面图。

图11是示出第1实施方式的第1变形例的发光元件的平面图。

图12是示出第1实施方式的第2变形例的发光元件的平面图。

图13是用于说明第1实施方式的修复系统的修复方法的说明图。

图14是用于说明第1实施方式的第3变形例的修复系统的修复方法的说明图。

图15是示出第1实施方式的第4变形例的检查用基板以及加压装置的剖视图。

图16是示出第2实施方式的修复系统的检查用基板的剖视图。

图17是说明第3实施方式的发光元件的层叠方法的图。

其中，附图标记说明如下：

1 显示装置

2 阵列基板

5、5R、5G、5B 发光元件