[发明专利]RTK定位结果的粗差检验方法及系统

权利要求书

1.一种RTK定位结果的粗差检验方法，其特征在于，包含：

获取RTK定位结果的粗差标记结果以及至少一个粗差相关特征的值，其中，所述粗差相关特征包括：GDOP值、部分模糊度固定剔除卫星数、固定卫星数、无电离层组合的残差、宽巷组合的残差、第一频定位结果与第二频定位结果的定位差、无电离层组合的定位结果与RTK定位结果的定位差、宽巷组合的定位结果与RTK定位结果的定位差中的一者或多者；

利用分类算法，以及所述每个RTK定位结果的粗差标记结果与所述粗差相关特征，对粗差检验模型进行训练，以确定粗差检验模型的参考偏置值和所述每个粗差相关特征相应的参考权值系数；

将待检验的RTK定位结果相应的所述粗差相关特征代入所述训练后的粗差检验模型，以对待检验的RTK定位结果进行粗差检验。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述粗差相关特征还包括ratio值和/或RTK定位的残差。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述RTK定位结果为单频RTK定位结果，所述粗差相关特征包括：RTK定位的残差、GDOP值、部分模糊度固定剔除卫星数和固定卫星数。

4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述RTK定位结果为双频RTK定位结果，所述粗差相关特征包括：RTK定位的残差、GDOP值、部分模糊度固定剔除卫星数、固定卫星数、无电离层组合的定位结果与RTK定位结果的定位差和无电离层组合的残差。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述利用分类算法，以及所述每个RTK定位结果的粗差标记结果与所述粗差相关特征，对粗差检验模型进行训练，以确定粗差检验模型的参考偏置值和所述每个粗差相关特征相应的参考权值系数的步骤中，进一步包括：

对所述一个或多个粗差相关特征的值进行非线性映射；

利用非线性映射后的所述粗差相关特征对粗差检验模型进行训练。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，当所述粗差相关特征包括固定卫星数时，所述对所述粗差相关特征的值进行非线性映射的步骤中，通过以下方式对固定卫星数进行非线性映射：

N_fix＝10lg(n_fix)+1

其中，n_fix为固定卫星数；N_fix为固定卫星数相应的映射后的样本特征。

7.如权利要求5所述的方法，其特征在于，当所述粗差相关特征包括部分模糊度固定剔除卫星数时，所述对所述粗差相关特征的值进行非线性映射的步骤中，通过以下方式对部分模糊度固定剔除卫星数进行非线性映射：

N_kick＝n_kick/(n_kick+n_fix)

其中，n_kick为RTK定位算法部分模糊度固定时剔除的卫星数；N_kick为相应的映射后的样本特征，n_fix为固定卫星数。

8.如权利要求5所述的方法，其特征在于，当所述粗差相关特征包括无电离层组合的残差、或宽巷组合的残差时，所述对所述每个粗差相关特征的值进行非线性映射的步骤中，通过以下方式对无电离层组合的残差、或宽巷组合的残差进行非线性映射：

其中，为第i颗固定卫星的宽巷组合的残差或无电离层组合的残差；为对应残差的均值；Std_*为对应残差相应的映射后的样本特征，n_fix为固定卫星数。