[发明专利]一种折射率测量方法及系统在审
申请号: | 202010603294.2 | 申请日: | 2020-06-29 |
公开(公告)号: | CN111812061A | 公开(公告)日: | 2020-10-23 |
发明(设计)人: | 张怡龙;张宇超;王海霞;陈朋;梁荣华 | 申请(专利权)人: | 浙江工业大学 |
主分类号: | G01N21/41 | 分类号: | G01N21/41 |
代理公司: | 杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241 | 代理人: | 王利强 |
地址: | 310014 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 折射率 测量方法 系统 | ||
1.一种折射率测量方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
1)全反射光束在不同相位角的图像采集;
2)不同偏振态光束信号采集,过程如下:
通过第一偏振器P1选择并滤光获得线偏振光,调节棱镜旋转台调整入射角,使得线偏振光以大于临界角的角度入射直角棱镜R1,线偏振光经过流道中的溶液实现全反射,反射光束的光强和相位发生了变化;
在棱镜结构中,折射率为n1的棱镜材质与折射率为n2的测试溶液直接接触,由于经过棱镜的附加的光束相位,棱镜出射端放置一对快轴几乎平行的二分之一波片,用于调节相位;
最后,透过另一个几乎与第一偏振片垂直的第二偏振片P2进行后选择,出射光由面阵CCD采集图像信号;
3)光强信息计算和光斑质心坐标计算数据处理。
2.如权利要求1所述的一种折射率测量方法,其特征在于,所述方法所述步骤1)中,相位角的确定通过LabVIEW程序的监测,为LabVIEW前面板和后台程序光斑信息计算。实施方式是控制调节架GCM-0912M和GCM-1101M调节波片H2,获得测量的最佳工作区间。
3.如权利要求1或2所述的一种折射率测量方法,其特征在于,所述步骤2)中,光束偏振态的取值是GCC-402112分光实现的绝对角度,取值分别为0°、15°、30°、45°、60°、75°和90°;再以调整相位所述实施方式获取光束采样数据;使用0%、1%、2%、3%、4%和5%的氯化钠溶液进行测试,比较SHEL现象并且计算其测量分辨率。
4.如权利要求1或2所述的一种折射率测量方法,其特征在于,所述步骤3)中,光强计算需要遍历图像像素点,对灰度值求取均值,并进行相对强度的对比,同时使用一系列的NaCl溶液计算系统的测量分辨率。
5.如权利要求1或2所述的一种折射率测量方法,其特征在于,所述步骤3)中,光斑质心的变化是基于SHEL,表现为光斑的自旋分裂,通过对获取的图像数据进行像素遍历,每个像素点的灰度大小作为该像素点索引权重,综合得到X和Y的坐标表示光斑质心坐标,该值代表了SHEL现象的程度,用作判断溶液折射率大小的依据。
6.一种折射率测量系统,其特征在于,包括高度稳定激光光源SLD、840nm单模光纤、消色差准直透镜、直角棱镜和溶液流道、前选/后选偏振器实、二分之一波片组、CCD模块和计算机,所述高度稳定激光光源SLD是光源发生器;840nm单模光纤传用于输光信号;消色差准直透镜对入射光束进行准直;直角棱镜和溶液流道用于放置待测样本;前选/后选偏振器实现对光偏振态的选择;二分之一波片组调整光的相位;CCD模块负责采集光斑信息;计算机用于实现光强信号的光强及质心坐标分析,对比不同溶液得到折射率的变化。
7.如权利要求6所述的一种折射率测量系统,其特征在于,所述的高度稳定激光光源SLD是光源发生器,提供光源信号,该光源是VENUS公司的VSLS-840-B高功率宽带光源,带宽为50nm,光波长为840nm,可调节光功率大小,通过单模光纤SMF输出,与其构成准直结构的是Thorlabs的F220PC-850准直头,参数为:f=11.22mm,NA=0.25的FC/PC接口的光纤准直器。
8.如权利要求6或7所述的一种折射率测量系统,其特征在于,所述的直角棱镜和溶液流道是溶液样本的载体,其中直角棱镜为高密度介质,折射率n=1.75,反射界面尺寸为30x20mm,流道尺寸为28x20x5mm,溶液流道与该界面使用紫外胶无缝结合;流道中的溶液使用橡胶管和针筒注射,与棱镜表面直接接触;入射光在该界面以大于临界角的角度入射,再由溶液反射。
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