[发明专利]一种天线射频测试装置

说明书

本发明公开了一种天线射频测试装置，包括：驱动机构；传动机构，其包括支撑部、第一滑动座和第二滑动座，支撑部与驱动轴连接且在驱动轴伸缩时，第一和第二滑动座分别沿支撑部倾斜远离滑动或倾斜靠近滑动；PCB，其射频输出端上焊接有馈电探针；接地座，其上设置有接地探针，接地座的一部分固定至第一或第二滑动座，另一部分和PCB固定至第一或第二滑动座，第一或第二滑动座的与接地座接触的部分均为非金属部分；承载座，第一和第二滑动座沿承载座相对/背向水平移动；安装座，其承载于承载座上，且具有贯通部，用于安装金属外壳天线。本发明能够灵活适应金属外壳天线内部测试点的射频测试。

技术领域

本发明涉及天线指标测试技术领域，具体涉及一种用于穿戴类产品中具有内部测试馈电点的金属外壳天线的天线射频测试装置。

背景技术

在设计穿戴类产品（例如智能手表、手环等）时，外壳一般为金属结构，因此，会利用产品的金属外壳作为产品天线，此类型天线称为金属外壳天线，具体地，如图1和2所示，该金属外壳天线200一般由四个部分组成，分别为金属天线210、金属地220、位于金属天线210和金属地220之间的绝缘体230以及测试点240，四个部分装配形成金属外壳天线，产品装配后，利用金属探针测试内部馈电点，利用矢量网络分析仪测试此类型天线的产品的射频指标的一致性和稳定性（例如，反射功率指标）。

对于穿戴类产品的金属外壳天线，其体积小巧，且其测试点普遍存在于金属外壳的内部，但是金属外壳天线的口径较小，若在内部进行测量，按照传统测试方法，需要探针从外部伸入并垂直接触内部测试点，由于存在与天线外边缘干涉，探针很难在不接触天线其他部位的同时能准确地接触内部测试点，同时，测试探针是焊接在PCB表面，探针与金属外壳天线接触时，产生平行于PCB板表面的半刚性受力，经常会将PCB上的金属微带线剥离，降低测试可靠性及稳定性。

通过传统的在每个产品上焊接射频连接线或利用探针很难经济的实现指标测量，因此，需要一种能够适应金属外壳天线的内部测试点的测试装置。

发明内容

本发明的目的在于提供一种天线射频测试装置，能够灵活适应金属外壳天线内部测试点的射频测试。

为实现上述发明目的，本发明采用下述技术方案予以实现：

一种天线射频测试装置，用于具有内部测试点的金属外壳天线，所述内部测试点包括至少一个接地点和至少一个馈电点，其特征在于，包括：

驱动机构，其具有在上下方向上可伸缩的的驱动轴；

传动机构，其包括支撑部、第一滑动座和第二滑动座，所述支撑部与所述驱动轴固定连接，在所述驱动轴伸缩时，所述第一滑动座和第二滑动座沿所述支撑部倾斜远离滑动或倾斜靠近滑动；

PCB，其射频输出端上焊接有与各馈电点接触的至少一个馈电探针；

接地座，其为金属材质，其上设置有与各接地点接触的至少一个接地探针，

所述接地座设置在所述第一滑动座和第二滑动座中一个上，且所述PCB设置在所述第一滑动座和第二滑动座中另一个上；或所述接地座和PCB均固定至所述第一滑动座或第二滑动座上；或所述接地座的一部分固定至所述第一滑动座和第二滑动座中一个上，另一部分和PCB固定至所述第一滑动座和第二滑动座中另一个上，其中所述第一滑动座和/或第二滑动座的与所述接地座接触的部分为非金属部分；

承载座，其承载所述第一滑动座和第二滑动座，并在所述第一滑动座和第二滑动座倾斜滑动时，限位所述第一滑动座和第二滑动座沿所述承载座相对或背向水平移动；

安装座，其承载于所述承载座上，且具有供带有各接地探针和各馈电探针的部分伸出的贯通部，用于安装所述金属外壳天线。