[发明专利]一种基于LNOI光子平台的硅光探测器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202010604444.1 申请日: 2020-06-29
公开(公告)号: CN111834473A 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 欧欣;李忠旭;黄凯;赵晓蒙;李文琴;鄢有泉;陈阳 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: H01L31/0232 分类号: H01L31/0232;H01L31/108;H01L31/18
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 郝传鑫;贾允
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 lnoi 光子 平台 探测器 及其 制备 方法
【说明书】:

发明公开了一种基于LNOI光子平台的硅光探测器及其制备方法,包括设于绝缘体衬底上的铌酸锂薄膜、单晶硅层和电极,所述绝缘体衬底包括支撑衬底层和光绝缘层,所述支撑衬底层设于所述光绝缘层的一侧,所述铌酸锂薄膜设于所述光绝缘层的另一侧,所述铌酸锂薄膜的另一侧设有所述单晶硅层,在所述单晶硅层上设有所述电极。相对于现有技术,本发明提出的基于LNOI光子平台的硅光探测器及其制备方法,由于硅为单晶硅,材料中的缺陷极少,大大提高了光生载流子的收集效率,所制备的器件具有高响应率,低电容,低暗电流和高灵敏度的优点,同时离子束剥离制备的单晶硅层厚度均匀性极好,器件性能稳定,具有极大应用前景。

技术领域

本发明涉及半导体材料技术领域,尤其涉及一种基于LNOI光子平台的硅光探测器及其制备方法。

背景技术

在单个芯片上集成各种光子组件(包括光源和探测器)是实现密集光子集成电路(Photonic Integrated Circuit,PIC)的关键途径。这些不仅对于数据和电信领域的传统应用,而且对于在成像,计量学,生物传感,纳米医学和量子光学中的应用,同时这些应用通常需要在可见波长范围内进行操作。

而近数十年来,铌酸锂(LiNbO3,LN)由于其较大的二阶电光系数(χ2)和出色的宽带光学透明度(400nm–4000nm)被认为是最佳的光学材料。最近,绝缘体衬底上的铌酸锂薄膜(LithiumNiobate on Insulator,LNOI)已经实现商业化,结合纳米制造技术的进展,已经实现了电信领域的超低损耗波导和高性能电光器件的实现,将光探测器(以及最终的激光源)与LNOI光子平台集成是一个重要的步骤,这可以使得使用LNOI作为新型光子集成电路平台实现复杂的功能。当前,已经有人探索了将探测器与铌酸锂集成在一起的可能,有使用传统的基于单晶体材料的,使用离子扩散技术制备的光学模场尺寸较大的LN波导,这导致了较大的探测器面积,从而限制了光电探测器的响应时间。

此外还有2019年哈佛大学课题组制备的基于LNOI衬底上沉积非晶硅来实现上述光电探测器的制备,但由于作为吸收光子的材料层——非晶硅的缺陷较多,使得所得到的器件有较大的暗电流,响应率等关键性能有所欠缺。

有鉴于此,有必要提供一种基于LNOI光子平台的硅光探测器及其制备方法,以解决上述技术问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于LNOI光子平台的硅光探测器及其制备方法,由于硅为单晶硅,材料中的缺陷极少,大大提高了光生载流子的收集效率,所制备的器件具有高响应率,低电容,低暗电流和高灵敏度的优点,同时离子束剥离制备的单晶硅层厚度均匀性极好,器件性能稳定,具有极大应用前景。

本发明是通过以下技术方案实现的:

一种基于LNOI光子平台的硅光探测器,包括设于绝缘体衬底上的铌酸锂薄膜、单晶硅层和电极,所述绝缘体衬底包括支撑衬底层和光绝缘层,所述支撑衬底层设于所述光绝缘层的一侧,所述铌酸锂薄膜设于所述光绝缘层的另一侧,所述铌酸锂薄膜的另一侧设有所述单晶硅层,在所述单晶硅层上设有所述电极。

可选的,所述光绝缘层的厚度大于或等于2um。

可选的,所述单晶硅层的厚度大于或等于100nm。

可选的,所述单晶硅层的表面粗糙度小于1nm。

另一方面,本发明还提供一种基于LNOI光子平台的硅光探测器的制备方法,所述方法用于制备上述的一种基于LNOI光子平台的硅光探测器,所述方法包括:

提供一设于绝缘体衬底上的铌酸锂薄膜和具有注入面的单晶硅晶片;

对所述单晶硅晶片的所述注入面进行离子注入,使得注入离子到达预设深度并在预设深度处形成损伤层,得到具有损伤层且在损伤层上方形成单晶硅层的单晶硅晶片;

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