[发明专利]一种散射参数模型的获取方法及装置

说明书

本申请适用于电路建模和电路检测的技术领域，提供了一种散射参数模型的获取方法及装置，所述方法包括：获取单端口的时域反射曲线，所述单端口为双端口网络传输通道的一端，所述时域反射曲线为所述单端口的阻抗随时间变化的曲线；根据所述时域反射曲线在多个时段的阻抗值，建立双端口散射参数模型，所述双端口散射参数模型包括多段传输线，每段所述传输线用于表示不同时段的特征阻抗值。由于时域反射曲线仅需连接单个端口，即可测得。故本申请根据时域反射曲线在不同时段的阻抗值，建立双端口散射参数模型。进而得到双端口S参数。实现了获取双端口S参数的方法。

技术领域

本申请属于电路建模和电路检测的技术领域，尤其涉及一种散射参数模型的获取方法及装置。

背景技术

散射参数，也称S参数，全称为Scatter参数，是微波传输中的一个重要参数。S参数描述了传输通道的频域特性，在进行串行链路仿真分析的时候，获得通道的准确S参数是一个很重要的环节。传统的获取S参数的方法为：获取相关参数(包括封装、键合线、pin建模)，将相关参数进行仿真，得到其双端口S参数。

而在实际获取S参数的过程中，例如：当网络传输通道为双端口时，其中一端的端口位于网络内部，网络内部是提前封装好的区域，从而无法得知网络的封装、键合线以及pin建模等参数。因此无法得到双端口S参数模型，进而无法得到双端口S参数。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例提供了一种散射参数模型的获取方法及装置，可以解决在实际获取S参数的过程中，例如：当网络传输通道为双端口时，其中一端的端口位于网络内部，网络内部是提前封装好的区域，从而无法得知网络的封装、键合线以及pin建模等参数。因此无法得到双端口S参数模型，进而无法得到双端口S参数的技术问题。

本申请实施例的第一方面提供了一种散射参数模型的获取方法，所述方法包括：

获取单端口的时域反射曲线，所述单端口为双端口网络传输通道的一端，所述时域反射曲线为所述单端口的阻抗随时间变化的曲线；

根据所述时域反射曲线在多个时段的阻抗值，建立双端口散射参数模型，所述双端口散射参数模型包括多段传输线，每段所述传输线用于表示不同时段的特征阻抗值。

本申请实施例的第二方面提供了一种散射参数模型的获取装置，所述装置包括：

获取单元，用于获取单端口的时域反射曲线，所述单端口为双端口网络传输通道的一端，所述时域反射曲线为所述单端口的阻抗随时间变化的曲线；

建立单元，用于根据所述时域反射曲线在多个时段的阻抗值，建立双端口散射参数模型，所述双端口散射参数模型包括多段传输线，每段所述传输线用于表示不同时段的特征阻抗值。

本申请实施例的第三方面提供了一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述第一方面所述方法的步骤。

本申请实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面所述方法的步骤。

本申请实施例与现有技术相比存在的有益效果是：本申请通过获取单端口的时域反射曲线。根据所述时域反射曲线在多个时段的阻抗值，建立双端口散射参数模型。由于时域反射曲线仅需连接单个端口，即可测得。故本申请根据时域反射曲线在不同时段的阻抗值，建立双端口散射参数模型。进而得到双端口S参数。实现了获取双端口S参数的方法。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或相关技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。