[发明专利]外部补偿电路、阵列基板、检测方法

说明书

本发明提供一种外部补偿电路、阵列基板、检测方法，属于像素补偿电路技术领域。本发明的外部补偿电路用于检测像素电路中向显示器件输出的电流，其包括：采样单元和积分单元；采样单元被配置为在第一检测阶段，第一开关、第四开关和第六开关处于导通状态；第二开关、第三开关和第五开关处于关断状态；第一电容感测感测线输出至第一节点的泄漏电流；在第二检测阶段，第一开关、第四开关和第六开关处于关断状态；第二开关、第三开关和第五开关处于导通状态；第一电容感测感测线输出至第一节点的带有泄漏电流的电流信号，并将消除泄漏电流后的电流信号传输至积分单元；积分单元被配置为：在第二检测阶段对消除泄漏电流后的电流信号进行积分后输出。

技术领域

本发明属于像素补偿电路技术领域，具体涉及一种外部补偿电路，阵列基板，检测方法。

背景技术

有源矩阵有机发光二极管(AMOLED)由于具有超轻薄、高色域、高对比度、宽视角、快速响应等诸多优点，已被应用于高端电势和移动设备产品中。

AMOLED采用的是主动式驱动，其中有一个驱动晶体管TFT，由于TFT工艺的偏差，各个驱动晶体管的阈值电压和电子迁移率等参数不可能保持完全一致。驱动晶体管阈值电压和电子迁移率的差异，都会对显示图像的质量造成不良影响。因此，需要对驱动晶体管的阈值电压和电子迁移率进行补偿。

传统的补偿方法是在像素内部对驱动晶体管的阈值电压和电子迁移率进行内部补偿，在像素内部利用TFT构件补偿子电路，以使得到的驱动电流于驱动晶体管的阈值电压和电子迁移率无关。由于这些补偿都是在像素内部进行的，在像素内部增加了很多TFT和电容，尤其是电容所占用的芯片面积较大，导致AMOLED显示面板的发光面积占整个像素面积的比例大大降低，也即OLED显示面板的开口率较低。

基于上述问题，可采用对像素电路进行外部补偿，包括外部电压补偿和外部电流补偿，通过检测像素电路中的电压或者电流后，以对像素电路进行补偿其中，外部电压补偿方法中，电压信号易受到干扰，且随着显示面板尺寸的增大，寄生电容越大，所检测到的电压变低，检测难度较大。外部电流补偿能够避免电压在检测过程中所受到的干扰问题，但是在电流检测过程中，感测到的电流除像素电流外，通常还包括泄漏电流，泄漏电流对像素电路的补偿至关重要，但是泄漏电流的大小和方向较难确定。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种能够消除感测线中的泄漏电流的外部补偿电路。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种外部补偿电路，用于检测像素电路中向显示器件输出的电流，所述外部补偿电路包括：检测子电路，包括：采样单元和积分单元；所述采样单元包括：第一电容、第二电容、第一开关、第二开关、第三开关、第四开关、第五开关；所述积分单元包括积分模块和第六开关；其中，

所述第一电容的第一端通过第一开关与第一节点连接，通过所述第二开关与所述积分模块的输入端连接；所述第一电容的第二端通过所述第三开关与所述第一节点连接，通过所述第四开关与所述积分模块的输入端连接；

第二电容的第一端通过第五开关与所述第一节点连接；所述第二电容的第二端与所述积分模块的输出端连接；

所述第六开关的两端分别与所述积分模块的输入端与输出端连接；

所述第一节点用于通过感测线与像素电路的驱动电流输出端连接；

所述采样单元被配置为：在第一检测阶段，第一开关、第四开关和第六开关处于导通状态；第二开关、第三开关和第五开关处于关断状态；第一电容感测感测线输出至第一节点的泄漏电流；在第二检测阶段，第一开关、第四开关和第六开关处于关断状态；第二开关、第三开关和第五开关处于导通状态；第一电容感测感测线输出至第一节点的带有泄漏电流的电流信号，并将消除泄漏电流后的电流信号传输至积分单元；

所述积分单元被配置为：在第二检测阶段对消除泄漏电流后的电流信号进行积分后输出。