[发明专利]辐射制冷功率的测量装置及系统

权利要求书

1.一种辐射制冷功率的测量装置，其特征在于，所述辐射制冷功率的测量装置包括：

容器，具有测量腔；

太空低温模拟组件，设于所述测量腔内，用于模拟太空低温环境；

大气辐射模拟组件，包括大气辐射模拟层、恒温器及连接所述恒温器的恒温管，所述大气辐射模拟层和所述恒温管均设于所述测量腔内，且所述恒温管覆盖于所述大气辐射模拟层的外表面，所述大气辐射模拟层的温度高于待测材料的温度，所述大气辐射模拟组件用于模拟具有大气窗口的大气层；

其中，所述大气辐射模拟组件及太空低温模拟组件用于覆盖待测材料的半球空间。

2.根据权利要求1所述的辐射制冷功率的测量装置，其特征在于，所述大气辐射模拟层对8μm～13μm波段光的反射率大于90％，对其余波段光的吸收率大于90％。

3.根据权利要求1所述的辐射制冷功率的测量装置，其特征在于，所述大气辐射模拟层包括位于内侧的第一大气辐射模拟层及位于外侧的第二大气辐射模拟层，所述第一大气辐射模拟层对8μm～13μm波段光的透过率大于90％，所述第二大气辐射模拟层对8μm～13μm波段光的反射率大于90％。

4.根据权利要求3所述的辐射制冷功率的测量装置，其特征在于，所述第一大气辐射模拟层为硒化锌层，所述第二大气辐射模拟层为金属银层。

5.根据权利要求1所述的辐射制冷功率的测量装置，其特征在于，所述大气辐射模拟组件用于设在所述待测材料的侧部，所述大气辐射模拟层与所述待测材料表面所在的水平线之间的夹角不小于90°。

6.根据权利要求1所述的辐射制冷功率的测量装置，其特征在于，还包括用于吸收热量的黑体，所述黑体朝向所述大气辐射模拟组件及太空低温模拟组件设置。

7.根据权利要求1所述的辐射制冷功率的测量装置，其特征在于，所述太空低温模拟组件包括太空环境模拟层、制冷机及连接所述制冷机的冷却管，所述冷却管覆盖于所述太空环境模拟层的外表面。

8.根据权利要求7所述的辐射制冷功率的测量装置，其特征在于，所述太空环境模拟层对0.3μm～25μm波段光的发射率大于90％，对0.3μm～25μm波段光的吸收率大于90％。

9.根据权利要求7所述的辐射制冷功率的测量装置，其特征在于，所述太空环境模拟层为黑色材料层。

10.根据权利要求1至9任一项所述的辐射制冷功率的测量装置，其特征在于，还包括太阳光模拟器，所述太阳光模拟器发射的光能够照射在所述待测材料的表面。

11.根据权利要求1至9任一项所述的辐射制冷功率的测量装置，其特征在于，还包括测量组件，所述测量组件包括温度采集元件及用于加热所述待测材料的加热件，所述温度采集元件用于测量所述待测材料的温度。

12.根据权利要求11所述的辐射制冷功率的测量装置，其特征在于，所述测量组件还包括用于放置所述待测材料的金属板，所述金属板背离所述待测材料的表面与所述加热件接触。

13.根据权利要求11所述的辐射制冷功率的测量装置，其特征在于，还包括程控电源、数据采集元件及计算机，所述程控电源分别与所述加热件及所述计算机电连接，所述数据采集元件分别与所述温度采集元件及所述计算机通信连接。

14.一种辐射制冷功率的测量系统，其特征在于，包括待测材料及权利要求1至13任一项所述的辐射制冷功率的测量装置，所述待测材料朝向所述大气辐射模拟组件及太空环境模拟组件设置。