[发明专利]半导体元件的电流检测电路和电流检测方法、以及半导体模块

权利要求书

1.一种电流检测电路，其特征在于，包括：

电流检测部，该电流检测部检测在具有电流检测端子的电压控制型的半导体元件的控制端子与驱动电路之间流过的控制电流；

过电流检测部，该过电流检测部基于与流过所述电流检测端子的检测电流相应的检测电压和检测参考电压进行比较的结果，检测出过电流；以及

调整部，该调整部基于所述电流检测部的检测结果，调整所述检测参考电压。

2.如权利要求1所述的电流检测电路，其特征在于，

所述电流检测部检测电连接在所述控制端子与所述驱动电路之间的第1电流检测用电阻的所述控制端子侧与所述驱动电路侧之间的电位差。

3.如权利要求2所述的电流检测电路，其特征在于，还包括：

电压检测部，该电压检测部检测所述第1电流检测用电阻的所述驱动电路侧或所述控制端子侧的电压；以及

电压判定部，该电压判定部判定所述电压检测部的检测电压是否超过控制参考电压，

所述调整部进一步基于所述电压判定部的判定结果，调整所述检测参考电压。

4.如权利要求3所述的电流检测电路，其特征在于，

所述调整部以从所述第1电流检测用电阻的所述驱动电路侧的电压减去所述控制端子侧的电压后得到的电位差超过第1阈值且所述电压检测部的检测电压在所述控制参考电压以下为条件，来增大所述检测参考电压。

5.如权利要求3或4所述的电流检测电路，其特征在于，

所述调整部基于所述电流检测部的检测结果和所述电压判定部的判定结果，在所述半导体元件的导通中的过渡期间内，增大所述检测参考电压。

6.如权利要求2至5的任一项所述的电流检测电路，其特征在于，

所述调整部基于所述电流检测部的检测结果，使所述半导体元件的导通中及截止中的过渡期间内的所述检测参考电压大于所述过渡期间以外的期间内的所述检测参考电压。

7.如权利要求2至6的任一项所述的电流检测电路，其特征在于，

所述电流检测部包括：

第1比较器，该第1比较器判定从所述第1电流检测用电阻的所述驱动电路侧的电压减去所述控制端子侧的电压后得到的电位差是否大于第1阈值；

第2比较器，该第2比较器判定从所述第1电流检测用电阻的所述控制端子侧的电压减去所述驱动电路侧的电压后得到的电位差是否大于第2阈值；以及

选择器，该选择器根据用于控制所述半导体元件的控制信号，选择所述第1比较器和所述第2比较器中的任一个的输出作为所述电流检测部的检测结果进行输出。

8.如权利要求7所述的电流检测电路，其特征在于，

所述选择器在所述控制信号表示应将所述半导体元件导通的情况下，将所述第1比较器的输出作为所述电流检测部的检测结果进行输出，在所述控制信号表示应将所述半导体元件截止的情况下，将所述第2比较器的输出作为所述电流检测部的检测结果进行输出。

9.如权利要求7或8所述的电流检测电路，其特征在于，

所述电流检测部还包括：

第1分压电路，该第1分压电路对所述第1电流检测用电阻的所述驱动电路侧的电压进行分压，并提供给所述第1比较器和所述第2比较器；以及

第2分压电路，该第2分压电路对所述第1电流检测用电阻的所述控制端子侧的电压进行分压，并提供给所述第1比较器和所述第2比较器。

10.一种电流检测电路，其特征在于，

电流检测部，该电流检测部检测在具有电流检测端子的电压控制型的半导体元件的控制端子与驱动电路之间流过的控制电流；

过电流检测部，该过电流检测部基于与流过所述电流检测端子的检测电流相应的检测电压和检测参考电压进行比较的结果，检测出过电流；以及

调整部，该调整部基于所述电流检测部的检测结果，使所述半导体元件的导通中及截止中的过渡期间内的所述检测参考电压大于所述过渡期间以外的期间内的所述检测参考电压。