[发明专利]一种固态硬盘的随机多用例上下电测试方法和系统

说明书

本发明公开一种固态硬盘的随机多用例上下电测试方法和系统，其中，该固态硬盘的随机多用例上下电测试方法包括：将固态硬盘的上下电平台合并至固态硬盘的随机测试平台中，形成支持上下电测试的改进型随机测试平台；随机执行所述改进型随机测试平台中所有支持上下电测试的用例，以对所述固态硬盘进行随机上下电测试。本发明的技术方案能解决现有技术中上下电平台的脚本较为单一，对于场景的覆盖不全面，每次仅能执行单场景中单用例的上下电测试的问题。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种固态硬盘的随机多用例上下电测试方法和系统。

背景技术

固态硬盘也称固态驱动器，是用固态电子存储芯片阵列而制成的硬盘。固态硬盘具有读写速度快、防震抗摔以及低功耗等优点，同样，固态硬盘也具有容量和使用寿命上的限制，其中，固态硬盘闪存具有擦写次数限制的问题，因为固态硬盘擦写次数的问题，所以固态硬盘的使用寿命也就存在限制。

为了检验和提高固态硬盘的使用寿命，相关技术中均在出厂前对固态硬盘进行测试，其中，上下电测试是固态硬盘最常见的测试项目之一。固态硬盘现有的项目版本有三个，分别处于项目前期、项目末期和研发阶段；其中，处于研发阶段的固态硬盘项目版本迭代周期较短，这样对于上下电测试的要求较高，需要覆盖大量场景。因为上下电测试涉及的场景较多，包括单命名空间namespace、多namespace、创建删除namespace、读写、卸载和加载驱动，以及格式化等过程中单一或混合场景的上下电测试。

然而，现有技术中上下电平台的脚本较单一，对于场景的覆盖不全面，每次仅能执行单场景中单用例的上下电测试，并且短时间内手动执行单个上下电脚本需要耗费较长时间，这样更加导致上下电测试的用例覆盖较为单一，造成资源的浪费。

发明内容

本发明提供一种固态硬盘的随机多用例上下电测试方法和系统，旨在解决现有技术中上下电平台的脚本较为单一，对于场景的覆盖不全面，每次仅能执行单场景中单用例的上下电测试，造成用例覆盖较为单一，造成资源浪费的问题。

为实现上述目的，根据本发明的第一方面，本发明提出了一种固态硬盘的随机多用例上下电测试方法，包括：

将固态硬盘的上下电平台合并至固态硬盘的随机测试平台中，形成支持上下电测试的改进型随机测试平台；

随机执行改进型随机测试平台中所有支持上下电测试的用例，以对固态硬盘进行随机上下电测试。

优选地，上述将固态硬盘的上下电平台合并至固态硬盘的随机测试平台中的步骤，包括：

比较上下电平台与随机测试平台中各脚本的内容；

合并上下电平台中与随机测试平台内容相同的脚本；

将上下电平台的专属脚本进行单独命名，添加至随机测试平台的自动化测试脚本集合中。

优选地，在将上下电平台的专属脚本添加至随机测试平台的自动化测试脚本集合的步骤之后，上述方法还包括：

判断改进型随机测试平台当前是否对固态硬盘进行上下电测试；

若改进型随机测试平台当前未对固态硬盘进行上下电测试，则控制改进型随机测试平台跳过对于专属脚本的随机执行。

优选地，上述随机执行改进型随机测试平台中所有支持上下电测试的用例的步骤，包括：

查找改进型随机测试平台中不支持上下电测试的脚本；

当改进型随机测试平台进行随机上下电测试时，去除改进型随机测试平台中不支持上下电测试的脚本。

优选地，上述随机执行改进型随机测试平台中所有支持上下电测试的用例的步骤，包括：

接收外部控制机发送的上下电测试命令；