[发明专利]仪控系统中子系统的拒动率验证方法和装置

权利要求书

1.一种仪控系统中子系统的拒动率验证方法，其特征在于，包括：

根据所述仪控系统的指标拒动率计算各个所述子系统的平均分配拒动率；

采用子系统的故障严重度权重和故障概率权重乘积或对数之和作为所述子系统对应的子权重；将各个所述子系统对应的子权重的平均值作为平均权重；以及，采用如下公式根据所述平均权重和所述子系统对应的子权重计算调整系数：

其中，w_i为第i个子系统对应的调整系数，W_i为第i个子系统对应的子权重，为所有子系统子权重的平均值；

根据所述调整系数和所述平均分配拒动率计算所述子系统的调整分配拒动率；

根据所述子系统的故障树模型和组成所述子系统的各个组件的拒动率计算得到所述子系统的理论计算拒动率；

在所述子系统的理论计算拒动率小于所述调整分配拒动率的情况下，对所述子系统进行测试试验而获得实际故障次数，以及根据所述测试试验数量、所述理论计算拒动率和测试置信度获得计算故障次数，包括：

采用获得计算最小故障间隔次数n；

根据所述计算最小故障间隔次数n和所述测试试验数量获得所述计算故障次数；

其中P为所述理论计算拒动率，α为所述测试置信度；

根据所述实际故障次数和所述计算故障次数判断所述子系统的理论计算拒动率是否满足要求。

2.根据权利要求1所述的拒动率验证方法，其特征在于，

所述子系统的故障树模型的基本逻辑门包括与门，和/或，或门。

3.根据权利要求2所述的拒动率验证方法，其特征在于，

在所述基本逻辑门为所述与门的情况下，所述基本逻辑门的顶事件的计算拒动率为:λ＝λ₁×T₁×λ₂+λ₂×T₂×λ₁；

其中λ₁为第一底事件的拒动率，λ₂为第二底事件的拒动率，T₁为第一底事件的平均故障时间，T₂为第二底事件的平均故障时间。

4.根据权利要求3所述的拒动率验证方法，其特征在于，

在第一底事件、所述第二底事件为可诊断故障时，T₁和T₂为对应的可诊断故障的平均维修时间；

在第一底事件、所述第二底事件为不可诊断故障时，T₁和T₂定期维护时间的一半。

5.根据权利要求2所述的拒动率验证方法，其特征在于，

在所述基本逻辑门为所述或门的情况下，所述基本逻辑门的顶事件的计算拒动率为：λ＝λ₁+λ₂；

其中：λ₁为第一底事件的拒动率，λ₂为第二底事件的拒动率。

6.一种仪控系统中子系统的拒动率验证装置，其特征在于，包括：

分配单元，用于根据所述仪控系统的指标拒动率计算各个所述子系统的平均分配拒动率；

调整系数计算单元，用于根据所述子系统的故障严重度权重和故障概率权重的乘积或对数之和计算所述子系统对应的子权重；根据各个所述子系统对应的子权重的平均值计算平均权重；以及，采用如下公式根据所述平均权重和所述子系统对应的子权重计算调整系数：

其中，w_i为第i个子系统对应的调整系数，W_i为第i个子系统对应的子权重，为所有子系统子权重的平均值；

调整单元，用于根据所述调整系数和所述平均分配拒动率计算所述子系统的调整分配拒动率；

结果评价单元，用于在所述子系统的理论计算拒动率小于所述调整分配拒动率的情况下，根据测试得到的实际故障次数和计算故障次数判断所述子系统的理论计算拒动率是否满足要求；

其中，所述子系统的理论计算拒动率根据所述子系统的故障树模型和组成所述子系统的各个组件的拒动率计算得到；

所述实际故障次数为对所述子系统进行测试试验而获得的实际故障次数；

所述计算故障次数为根据所述理论计算拒动率和测试置信度获得，包括：

采用获得计算最小故障间隔次数n；

根据所述计算最小故障间隔次数n和所述测试试验数量获得所述计算故障次数；

其中P为所述理论计算拒动率，α为所述测试置信度。