[发明专利]磁盘装置以及写入处理方法

说明书

实施方式提供能够提高可靠性的磁盘装置以及写入处理方法。本实施方式的磁盘装置具备：盘，具有将区在半径方向上划分而得到的多个划分区域；头，对所述盘写入数据，从所述盘读出数据；以及控制器，对在所述盘的半径方向上隔开间隔对多个轨道进行写入的通常记录和在所述半径方向上重叠地对多个轨道进行写入的瓦记录进行选择并执行，在所述多个划分区域的至少1个划分区域中以不同的多个轨道间距写入数据。

关联申请

本申请享受以日本专利申请2020－38796号(申请日：2020年3月6日)为在先申请的优先权。本申请通过参照该在先申请而包括在先申请的全部内容。

技术领域

本发明的实施方式涉及磁盘装置以及写入处理方法。

背景技术

近年来，开发了具有实现高记录密度的技术的磁盘装置。作为实现高记录密度的磁盘装置，存在在盘的半径方向上对多个轨道进行重叠写的瓦记录型式(Shingled writeMagnetic Recording：SMR、或Shingled Write Recording：SWR)的磁盘装置。另外，也存在能够对在盘的半径方向上隔开间隔向多个轨道写入的通常记录型式和瓦记录型式进行选择并执行的磁盘装置。

发明内容

本发明的实施方式提供一种能够提高可靠性的磁盘装置以及写入处理方法。

本实施方式的磁盘装置具备：盘，具有将区(zone)在半径方向上划分而得到的多个划分区域；头，对所述盘写入数据，从所述盘读出数据；以及控制器，对在所述盘的在半径方向上隔开间隔对多个轨道进行写入的通常记录和在所述半径方向上重叠地对多个轨道进行写入的瓦记录进行选择并执行，在所述多个划分区域的至少1个划分区域中以不同的多个轨道间距(pitch)写入数据。

附图说明

图1是表示第1实施方式的磁盘装置的构成的框图。

图2是表示第1实施方式的盘的一例的示意图。

图3是表示通常记录处理的一例的示意图。

图4是表示第1实施方式的瓦记录带区域的瓦记录处理的一例的示意图。

图5是表示在半径方向上排列的多个通常记录带区域的配置的一例的示意图。

图6是表示在半径方向上相邻的瓦记录带区域以及通常记录带区域的配置的一例的示意图。

图7是表示在半径方向上排列的多个瓦记录带区域的配置的一例的示意图。

图8是表示在半径方向上相邻的通常记录带区域以及瓦记录带区域的配置的一例的示意图。

图9是表示第1实施方式的写入处理的一例的流程图。

图10是表示变形例1的写入处理的一例的流程图。

图11是表示第2实施方式的磁盘装置的构成的框图。

图12是表示标准瓦记录带区域的瓦记录处理的一例的示意图。

图13是表示区的配置的一例的示意图。

图14是表示第2实施方式的重试(retry)次数的表的一例的图。

图15是表示接受到重置写指针(reset write pointer)的情况或执行了介质转换(media conversion)的处理的一例的示意图。

图16是表示第2实施方式的写入处理的一例的流程图。

图17是表示第2实施方式的刷新(refresh)处理的判定处理的一例的流程图。

图18是表示第2实施方式的重试次数的计数处理的一例的流程图。