[发明专利]一种设备测试方法、装置及计算机可读存储介质

说明书

本申请提供了一种设备测试方法、装置及计算机可读存储介质，该设备测试方法包括：控制测试工位的测试设备对传送至被测工位的目标被测设备进行充放电性能测试；在目标被测设备的测试结果合格时，生成设备换位控制信号；根据设备换位控制信号，控制移动机构将目标被测设备换位至测试工位。通过本申请方案的实施，将测试通过的被测设备换位至测试工位，以替代此前的测试设备进行后续被测设备的充放电性能测试，一方面，对测试工位上的测试设备进行轮转换位，测试设备电量可以得到保证，可提高测试效率；另一方面，不需要对测试设备进行点检，而有效降低了测试工作量，且可保证测试结果的准确性。

技术领域

本申请涉及电子技术领域，尤其涉及一种设备测试方法、装置及计算机可读存储介质。

背景技术

随着电子技术的快速发展，手机、平板电脑、智能穿戴设备等终端设备在用户生活中愈发普及。在实际应用中，终端的充放电性能对用户的使用体验具有至关重要的作用，因此，在终端出厂前通常需要对终端进行严格的充放电性能测试。

目前，相关技术中在对待测设备进行充放电测试时，通常是固定设置有一台测试设备，然后通过该测试设备依次对多个待测设备进行测试，然而，通常测试拉线上的待测设备数量众多，若仅固定使用一台测试设备来进行测试，一方面，在测试设备的电量耗尽时，需要等待测试设备补充电量之后才能继续测试，测试效率不高；另一方面，设备长时运行对其可耐受性提出很高要求，因此需要定时对该测试设备进行点检，测试工作量较大，并且若未及时进行点检而在测试设备损伤情况下继续进行测试，则还会导致测试结果准确性降低的问题。

发明内容

本申请实施例提供了一种设备测试方法、装置及计算机可读存储介质，至少能够解决相关技术中固定使用一台测试设备来对待测设备进行充放电性能测试，所导致的测试效率不高、测试工作量较大以及测试结果准确性较低的问题。

本申请实施例第一方面提供了一种设备测试方法，包括：

控制测试工位的测试设备对传送至被测工位的目标被测设备进行充放电性能测试；

在所述目标被测设备的测试结果合格时，生成设备换位控制信号；

根据所述设备换位控制信号，控制移动机构将所述目标被测设备换位至所述测试工位。

本申请实施例第二方面提供了一种设备测试装置，包括：

测试模块，用于控制测试工位的测试设备对传送至被测工位的目标被测设备进行充放电性能测试；

生成模块，用于在所述目标被测设备的测试结果合格时，生成设备换位控制信号；

换位模块，用于根据所述设备换位控制信号，控制移动机构将所述目标被测设备换位至所述测试工位。

本申请实施例第三方面提供了一种电子装置，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时，实现上述本申请实施例第一方面提供的设备测试方法中的各步骤。

本申请实施例第四方面提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时，实现上述本申请实施例第一方面提供的设备测试方法中的各步骤。

由上可见，根据本申请方案所提供的设备测试方法、装置及计算机可读存储介质，控制测试工位的测试设备对传送至被测工位的目标被测设备进行充放电性能测试；在目标被测设备的测试结果合格时，生成设备换位控制信号；根据设备换位控制信号，控制移动机构将目标被测设备换位至测试工位。通过本申请方案的实施，将测试通过的被测设备换位至测试工位，以替代此前的测试设备进行后续被测设备的充放电性能测试，一方面，对测试工位上的测试设备进行轮转换位，测试设备电量可以得到保证，可提高测试效率；另一方面，不需要对测试设备进行点检，而有效降低了测试工作量，且可保证测试结果的准确性。

附图说明