[发明专利]应用测试方法和装置、存储介质和电子装置

说明书

本申请涉及一种应用测试方法和装置、存储介质和电子装置，其中，该方法包括：确定与待测试应用功能对应的第一业务节点，其中，所述第一业务节点与封装的第一应用功能的第一接口对应，所述第一应用功能用于生成所述待测试应用功能的测试数据；调用与所述第一业务节点对应所述第一接口，生成所述待测试应用功能的第一测试数据；使用所述第一测试数据对所述待测试应用功能进行测试，得到所述待测试应用功能的第一测试结果。本申请解决了相关技术中的应用测试方式存在由于测试准备过程繁琐所导致的测试效率低的问题。

技术领域

本申请涉及计算机领域，尤其涉及一种应用测试方法和装置、存储介质和电子装置。

背景技术

目前，在进行产品项目研发时，产品人员(例如，产品经理)进行产品需求的规划和描述，研发人员理解产品需求，进行产品功能的研发，得到满足产品需求的软件。测试人员对研发出的软件进行测试，测试软件是否满足需求，是否存在bug等。

在实现本发明过程中，发明人发现在进行产品测试时，测试人员需要准备测试所需的工具、材料等，测试准备过程繁琐。在进行测试时，测试数据流向复杂，链路较长。并且，测试数据容易污染，导致测试结果不准确。

例如，测试人员需要测试账户的转账功能，其需要准备一个已开户且有足够余额的账户，为了得到该数据，需要测试人员执行开户、存钱等一系列繁琐的操作，才能得到需要的测试数据。对于复杂的测试过程，其测试数据流向复杂，链路较长，测试人员需要消耗大量精力去处理主要测试功能以外的过程和数据准备。并且，对于已开户且余额的账户，再次使用其进行测试时，由于该账户内的金额已经被使用过，数据已被污染，易导致测试失败。

因此，相关技术中的应用(产品)测试方式，存在由于测试准备过程繁琐所导致的测试效率低的问题。

发明内容

本申请提供了一种应用测试方法和装置、存储介质和电子装置，以至少解决相关技术中的应用测试方式存在由于测试准备过程繁琐所导致的测试效率低的问题。

根据本申请实施例的一个方面，提供了一种应用测试方法，包括：确定与待测试应用功能对应的第一业务节点，其中，所述第一业务节点与封装的第一应用功能的第一接口对应，所述第一应用功能用于生成所述待测试应用功能的测试数据；调用与所述第一业务节点对应所述第一接口，生成所述待测试应用功能的第一测试数据；使用所述第一测试数据对所述待测试应用功能进行测试，得到所述待测试应用功能的第一测试结果。

可选地，确定所述待测试应用功能所对应的所述第一业务节点包括：获取所述待测试应用功能的第一业务流，其中，所述第一业务流上包含有多个所述第一业务节点，所述第一业务流用于表示多个所述第一业务节点之间的顺序；根据所述第一业务流，确定与所述待测试应用功能对应的多个所述第一业务节点。

可选地，获取所述待测试应用功能的所述第一业务流包括：检测到对客户端的显示界面执行的第一操作，其中，所述第一操作用于选取多个所述第一业务节点；响应所述第一操作，在所述显示界面上显示选取的多个所述第一业务节点；检测到对所述显示界面执行的第二操作，其中，所述第二操作用于配置多个所述第一业务节点之间的顺序；响应所述第二操作，在所述显示界面上显示多个所述第一业务节点之间的指示标识，其中，所述指示标识用于指示多个所述第一业务节点之间的顺序；检测到对所述显示界面执行的第三操作，其中，所述第三操作用于触发获取所述第一业务流；响应所述第三操作，获取所述待测试应用功能的所述第一业务流。

可选地，调用与所述第一业务节点对应所述第一接口，生成所述待测试应用功能的所述第一测试数据包括：按照所述第一业务流依次调用与各个所述第一业务节点对应的所述第一接口，生成所述待测试应用功能的所述第一测试数据。