[发明专利]电子设备在审
申请号: | 202010611812.5 | 申请日: | 2020-06-30 |
公开(公告)号: | CN113133196A | 公开(公告)日: | 2021-07-16 |
发明(设计)人: | 高泽昌秀 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社 |
主分类号: | H05K1/11 | 分类号: | H05K1/11;H05K1/02 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 万利军;段承恩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子设备 | ||
本发明涉及电子设备。实施方式所涉及的电子设备具有:布线基板;第1布线图案,设置于所述布线基板上,具有在第1方向上延伸的第1布线部;第2布线图案,具有在所述第1方向上延伸的第2布线部;第1过孔,设置于所述第1布线部上;第2过孔,设置于所述第2布线部上;电源电路,隔着时间的间隔,向所述第1布线部施加第1电位;以及检测电路,在所述第2布线图案中流动有电流的情况下,输出第2信号。
本申请享受以日本专利申请2020-4280号(申请日:2020年1月15日)为基础申请的优先权。本申请通过参照该基础申请而包含基础申请的全部内容。
技术领域
本发明的实施方式涉及电子设备。
背景技术
电子设备的布线基板因与环境中的物质反应而腐蚀。蠕变腐蚀是下述的现象:在金属布线暴露于高湿/含有硫化物(硫化氢、硫氧化物等)的气氛时,从金属布线的保护层薄的部位或者没有设置保护层的部位开始被腐蚀,由此腐蚀生成物以在布线基板的表面攀爬的方式扩展而形成。如果蠕变腐蚀进展(发展)下去,那么在电子设备中布线彼此经由腐蚀生成物而连接,由此有可能产生布线彼此短路而引起动作不良的腐蚀错误(error,故障)。
发明内容
本发明的实施方式提供一种在腐蚀错误产生前以高的灵敏度检测在布线基板产生了腐蚀这一情况的电子设备。
实施方式所涉及的电子设备具有:布线基板;第1布线图案,设置于所述布线基板上,具有在第1方向上延伸的第1布线部;第2布线图案,具有在所述第1方向上延伸的第2布线部;第1过孔,设置于所述第1布线部上;第2过孔,设置于所述第2布线部上;电源电路,隔着时间的间隔而向所述第1布线部施加第1电位;以及电流检测电路,在所述第2布线图案中流动有电流的情况下,输出第1信号。
附图说明
图1是表示第1实施方式所涉及的电子设备的构成的示意图。
图2是表示第1实施方式所涉及的腐蚀检测图案的示意图。
图3是对第1实施方式的腐蚀检查的方法进行说明的流程图。
图4是表示第1实施方式所涉及的布线的腐蚀进展了的腐蚀检测图案的示意图。
图5是表示第1实施方式的变形例1所涉及的腐蚀检测图案的示意图。
图6是表示第1实施方式的变形例2所涉及的腐蚀检测图案的示意图。
图7是表示第1实施方式的变形例3所涉及的腐蚀检测图案的示意图。
图8是表示第1实施方式的变形例4所涉及的腐蚀检测图案的示意图。
图9是表示第1实施方式的变形例5所涉及的腐蚀检测图案的示意图。
图10是表示第1实施方式的变形例6所涉及的腐蚀检测图案的示意图。
图11是表示第1实施方式的变形例7所涉及的腐蚀检测图案的示意图。
图12是表示第1实施方式的变形例8所涉及的腐蚀检测图案的示意图。
图13是表示第1实施方式的变形例9所涉及的腐蚀检测图案的示意图。
具体实施方式
以下,一边参照图一边对本发明的实施方式进行说明。在实施例中的说明中所使用的图是为了使说明容易的示意性的图,图中的各要素的形状、尺寸、大小关系等在可得到本发明的效果的范围内能够适当变更。图所示的布线的弯曲部和/或布线彼此的交叉部设为具有直角的角的形状而进行记载,但也能够设为具有钝角的角和/或倒了圆角的曲线的角的形状。对于具有同样的性质、功能或特征的要素,使用相同附图标记,将说明省略。
[第1实施方式]
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