[发明专利]测试方法及测试设备在审

专利信息
申请号: 202010612003.6 申请日: 2020-06-29
公开(公告)号: CN111638082A 公开(公告)日: 2020-09-08
发明(设计)人: 伏冰峰;汪涌 申请(专利权)人: 深圳至峰精密制造有限公司
主分类号: G01M99/00 分类号: G01M99/00;G01R31/00;B65G47/90;B65G47/82;B65G21/22;B65G15/20
代理公司: 北京市立方律师事务所 11330 代理人: 张筱宁
地址: 518000 广东省深圳市龙华区观*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 测试 方法 设备
【说明书】:

本申请涉及测试技术领域,尤其涉及一种测试方法及测试设备。该方法包括:将至少一个工件装载在测试盒的工件测试位上;通过第一送料机构将装载有至少一个工件的测试盒传送至测试房的进料口;通过测试房的输送机构将装载有至少一个工件的测试盒从进料口移送至测试工位,使得测试盒上的测试触点与测试工位上的测试接头电连接;在预设时间段内向位于测试工位的测试盒供电,以运行至少一个工件;若在供电过程中测试盒报错,则将处于与报错信息对应的工件测试位上的工件确定为测试失败的工件。本申请的实施有利于提高测试的效率。

技术领域

本申请涉及测试技术领域,尤其涉及一种测试方法及测试设备。

背景技术

电子产品以其方便、高效的优点受到了人们的欢迎,在工业生产和家庭使用中都能看到电子产品的身影。电子产品在生产后投入市场之前一般会进行测试,以保证流入市场的产品的质量。传统的测试方法主要是将电子产品安装在测试装置中,试运行一段时间,并观察试运行的结果以测试电子产品运行是否稳定。然而,该方法需要测试人员对电子产品逐一进行测试,测试效率非常低,无法满足目前市场的生产需求,且依赖于人工对试运行的结果进行判断,其测试结果的准确率较低。

发明内容

本申请的目的在于提高测试的效率和准确率。

为了实现上述目的,本申请提供如下技术方案:

本申请第一方面,提供一种测试方法,包括:将至少一个工件装载在测试盒的工件测试位上;通过第一送料机构将装载有至少一个工件的所述测试盒传送至测试房的进料口;通过所述测试房的输送机构将装载有至少一个工件的测试盒从所述进料口移送至测试工位,使得所述测试盒上的测试触点与所述测试工位上的测试接头电连接;在预设时间段内向位于所述测试工位的所述测试盒供电,以运行所述至少一个工件;若在供电过程中所述测试盒报错,则将处于与报错信息对应的工件测试位上的工件确定为测试失败的工件。

在一实施例中,所述方法还包括:供电结束,通过所述输送机构将所述测试盒从测试工位上移送至所述测试房的出料口;通过第二送料机构将所述测试盒从所述测试房的出料口传送至承载平台;将所述至少一个工件从所述测试盒的工件测试位上拆卸。

在一实施例中,所述将至少一个工件装载在测试盒的工件测试位上之前,还包括:将所述至少一个工件放置在第一机能测试机构上进行机能测试;所述将至少一个工件装载在测试盒的工件测试位上,包括:确定所述至少一个工件机能测试成功,将所述至少一个工件放置在测试盒未装载工件的工件测试位上。

在一实施例中,所述将所述至少一个工件从所述测试盒的工件测试位上拆卸之后,还包括:确定所述至少一个工件为测试成功的工件,将所述至少一个工件放置在第二机能测试机构上进行机能测试。

在一实施例中,所述将所述至少一个工件从所述测试盒的工件测试位上拆卸之后,还包括:将所述测试盒从所述第二承载平台传送至第一承载平台,并通过检测机构检测所述测试盒及测试盒上的各工件测试位是否运行正常;若任一工件测试位检测结果异常,则标识该工件测试位并在下一轮将工件装载在测试盒上时空置该工件测试位。

本申请第二方面,提供一种测试设备,包括:测试盒,包括测试触点与至少一个工件测试位,所述工件测试位用于装载工件;第一承载平台,包括用于承载所述测试盒的第二支架;第一送料机构,设置于所述第一承载平台与测试房的进料口之间,用于将所述测试盒从所述第一承载平台传送至测试房的进料口;测试房,包括输送机构以及测试工位;输送机构用于将所述测试盒从所述进料口移送至所述测试工位;所述测试工位用于与所述测试盒电连接并向所述测试盒供电,以运行位于所述测试盒的工件测试位上的工件;电子装置,用于接收工件的运行信息,当所述运行信息中包括报错信息,则将处于与报错信息对应的工件测试位上的目标工件确定为测试失败的工件。

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