[发明专利]测量面积的方法及装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种测量面积的方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待测像素点区域和第一像素点的第一透射参数；所述第一像素点属于所述待测像素点区域；所述第一透射参数表征所述第一像素点的尺寸与第一物点的尺寸之间的转换关系；所述第一物点为所述第一像素点对应的物点；

确定所述待测像素点区域中至少一个像素点所对应的至少一个物点的面积和，得到所述待测像素点区域对应的物理区域的面积；所述至少一个像素点包括所述第一像素点；所述第一像素点对应的物点的面积依据所述第一像素点的面积与所述第一透射参数得到。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待测像素点区域，包括：

获取待处理图像以及所述待处理图像中的至少一个位置；

依据所述至少一个位置从所述待处理图像中确定像素点区域，作为所述待测像素点区域。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述待测像素点区域属于待处理图像，所述获取第一像素点的第一透射参数，包括：

对所述待处理图像进行物体检测处理或对所述待测像素点区域进行物体检测处理，得到第一物体框的位置和第二物体框的位置；所述第一物体框包含第一物体；所述第二物体框包含第二物体；

依据所述第一物体框的位置得到第一物体的第一尺寸，依据所述第二物体框的位置得到第二物体的第二尺寸；

依据所述第一尺寸和第三尺寸得到第二透射参数，依据所述第二尺寸和第四尺寸得到第三透射参数；所述第三尺寸为所述第一物体的物理尺寸；所述第二透射参数表征第五尺寸与第六尺寸之间的转换关系；所述第五尺寸为第二像素点的尺寸；所述第二像素点在所述待处理图像中的位置依据所述第一物体框的位置确定；所述第六尺寸为所述第二像素点对应的物点的尺寸；所述第四尺寸为所述第二物体的物理尺寸；所述第三透射参数表征第七尺寸与第八尺寸之间的转换关系；所述第七尺寸为第三像素点的尺寸；所述第三像素点在所述待处理图像中的位置依据所述第二物体框的位置确定；所述第八尺寸为所述第三像素点对应的物点的尺寸；

对所述第二透射参数和所述第三透射参数进行曲线拟合处理，得到所述待测像素点区域的第一透射参数图；第九尺寸与第十尺寸之间的转换关系依据所述第一透射参数图中的第一像素值确定；所述第九尺寸为所述待测像素点区域中的第四像素点的尺寸；所述第十尺寸为所述第四像素点对应的物点的尺寸；所述第一像素值为第五像素点的像素值；所述第五像素点为所述第一透射参数图中与所述第四像素点对应的像素点；

依据所述第一透射参数图中与所述第一像素点对应的像素值，得到所述第一透射参数。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述对所述第二透射参数和所述第三透射参数进行曲线拟合处理，得到所述待测像素点区域的第一透射参数图之前，所述方法还包括：

获取置信度映射；所述置信度映射表征物体类型与透射参数的置信度之间的映射；

依据所述第一物体的物体类型和所述置信度映射，得到所述第二透射参数的第一置信度；

所述对所述第二透射参数和所述第三透射参数进行曲线拟合处理，得到所述待测像素点区域的第一透射参数图，包括：

依据所述第一置信度和所述第二透射参数，得到第四透射参数；所述第四透射参数与所述第一置信度呈正相关；

对所述第三透射参数和所述第四透射参数进行曲线拟合处理，得到所述第一透射参数图。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在所述依据所述第一物体的物体类型和所述置信度映射，得到所述第二透射参数的第一置信度之前，所述方法还包括：

对所述第一物体框内的像素点区域进行特征提取处理，得到特征数据；

依据所述特征数据，得到所述第一物体的分数；所述分数与所述第一物体的尺寸的置信度呈正相关；

所述依据所述第一物体的物体类型和所述置信度映射，得到所述第二透射参数的第一置信度，包括：

依据所述第一物体的物体类型和所述置信度映射，得到所述第二透射参数的第二置信度；

依据所述分数与所述第二置信度，得到所述第一置信度；所述第一置信度与所述分数呈相关。