[发明专利]一种新型半导体封装结构及其制造工艺在审

专利信息
申请号: 202010614304.2 申请日: 2020-06-30
公开(公告)号: CN111834330A 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 刘恺;王亚琴 申请(专利权)人: 江苏长电科技股份有限公司
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498;H01L23/13;H01L23/14;H01L21/48
代理公司: 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 代理人: 赵海波
地址: 214400 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 新型 半导体 封装 结构 及其 制造 工艺
【权利要求书】:

1.一种新型半导体封装结构,其特征在于:它包括线路内芯(1),所述线路内芯(1)包括上金属板(1.1)和下金属板(1.2),所述上金属板(1.1)和下金属板(1.2)之间通过复数个金属柱(1.3)相连接,所述上金属板(1.1)和下金属板(1.2)之间填充有塑料(2),所述金属柱(1.3)被包覆于塑料(2)内,所述上金属板(1.1)正面设置有基岛(3)和内引脚(4),所述下金属板(1.2)背面设置有外引脚(5),所述基岛(3)上设置有芯片(7),所述芯片(7)外围包封有塑封料(9),所述金属柱(1.3)有两种形式,分别为连接金属柱(1.3a)和虚拟金属柱(1.3b),所述连接金属柱(1.3a)起电性连接和机械支撑作用,所述虚拟金属柱(1.3b)仅起机械支撑作用。

2.根据权利要求1所述的一种新型半导体封装结构,其特征在于:复数个金属柱(1.3)呈阵列式排布。

3.根据权利要求1所述的一种新型半导体封装结构,其特征在于:所述上金属板(1.1)和下金属板(1.2)外围包覆有绿漆(10)。

4.根据权利要求3所述的一种新型半导体封装结构,其特征在于:所述上金属板(1.1)外围包覆的绿漆(10)上表面与基岛(3)和内引脚(4)上表面齐平;所述下金属板(1.2)外围包覆的绿漆(10)下表面与外引脚(5)下表面齐平。

5.根据权利要求1所述的一种新型半导体封装结构,其特征在于:基岛(3)区域的连接金属柱(1.3a)与连接金属柱(1.3a)顶部之间和底部之间分别通过上层金属板(1.1)和下层金属板(1.2)相连,引脚区域的连接金属柱(1.3a)与连接金属柱(1.3a)顶部之间和底部之间分别通过上层金属板(1.1)和下层金属板(1.2)相连。

6.根据权利要求1所述的一种新型半导体封装结构,其特征在于:基岛(3)区域的连接金属柱(1.3a)与虚拟金属柱(1.3b)仅顶部之间或底部之间相连;引脚区域的连接金属柱(1.3a)和虚拟金属柱(1.3b)仅顶部之间或底部之间相连。

7.根据权利要求1所述的一种新型半导体封装结构,其特征在于:基岛(3)区域的虚拟金属柱(1.3b)与虚拟金属柱(1.3b)仅顶部之间或底部之间相连;引脚区域的虚拟金属柱(1.3b)与虚拟金属柱(1.3b)顶部之间或底部之间相连。

8.根据权利要求1所述的一种新型半导体封装结构,其特征在于:基岛(3)区域的连接金属柱(1.3a)与连接金属柱(1.3a)底部之间不通过下层金属板(1.2)相连。

9.一种新型半导体封装结构的制造工艺,其特征在于所述工艺包括以下步骤:

步骤一、取一线路内芯,线路内芯包括上金属板和下金属板,上金属板和下金属板之间通过复数个金属柱相连接;

步骤二、在线路内芯的上金属板和下金属板之间填充塑料;

步骤三、对上金属板和下金属板表面部分区域进行化学蚀刻,直至露出塑料和部分金属柱;

步骤四,在步骤三完成蚀刻后的上金属板和下金属板外围涂覆绿漆;

步骤五,对上金属板和下金属板表面的绿漆进行曝光、显影从而去除部分绿漆,以露出上金属板和下金属板后续需要进行电镀作业的图形区域;

步骤六,通过电镀在上金属板正面形成相应的基岛和内引脚,在下金属板背面形成外引脚;

步骤七,在步骤六形成的基岛上植入芯片;

步骤八,芯片外围采用塑封料进行塑封;

步骤九,切割制得单颗新型半导体封装结构。

10.根据权利要求9所述的一种新型半导体封装结构的制造工艺,其特征在于:步骤一中上金属板和下金属板为平整的金属板;金属柱有两种形式,分别为连接金属柱和虚拟金属柱,所述连接金属柱起电性连接和机械支撑作用,所述虚拟金属柱在后续形成的封装结构中仅起机械支撑作用。

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