[发明专利]一种基于同轴双波长消荧光的拉曼检测系统

权利要求书

1.一种基于同轴双波长消荧光的拉曼检测系统，其特征在于，两束同轴波长相近的激光照射待测物的同一位置，得到拉曼信号不同，但荧光背景相同或相近的两个谱图，对两个谱图进行差分处理，减掉荧光背景，以获取拉曼信号。

2.根据权利要求1所述的一种基于同轴双波长消荧光的拉曼检测系统，其特征在于，所述的两束激光可以是一个波长可调的激光器发射的不同波长的激光。

3.根据权利要求1所述的一种基于同轴双波长消荧光的拉曼检测系统，其特征在于，所述的两束激光可以是两个激光器，或更多激光器合束组成。

4.根据权利要求3所述的一种基于同轴双波长消荧光的拉曼检测系统，其特征在于，所述两个或多个激光器发射的激光需要经过激光合束器合束后照射到待测物上。

5.根据权利要求1所述的一种基于同轴双波长消荧光的拉曼检测系统，其特征在于，所述的激光可以在紫外、可见光、近红外和红外波段。

6.根据权利要求1所述的一种基于同轴双波长消荧光的拉曼检测系统，其特征在于，所述的激光在到达待测物前可以通过在光路中添加扫描装置，实现多点测量。

7.根据权利要求1所述的一种基于同轴双波长消荧光的拉曼检测系统，其特征在于，所述的激光可以通过自由空间光学组件聚焦到待测物进行测量。

8.根据权利要求1所述的一种基于同轴双波长消荧光的拉曼检测系统，其特征在于，所述的激光可以通过光纤传导到待测物进行测量。

9.根据权利要求1所述的一种基于同轴双波长消荧光的拉曼检测系统，其特征在于，所述的激光可以通过望远系统聚焦到待测物进行测量。

10.根据权利要求7所述的一种基于同轴双波长消荧光的拉曼检测系统，其特征在于，所述光学组件可以包括但不限于：二向色滤光片、光学透镜组、光纤等。