[发明专利]阵列基板及显示面板有效

专利信息
申请号: 202010616708.5 申请日: 2020-06-30
公开(公告)号: CN111681552B 公开(公告)日: 2022-08-09
发明(设计)人: 金慧俊;姜炜;张劼 申请(专利权)人: 上海中航光电子有限公司
主分类号: G09F9/30 分类号: G09F9/30;G02F1/1362
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 王文
地址: 201108 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 阵列 显示 面板
【说明书】:

发明公开了一种阵列基板及显示面板。阵列基板包括:衬底,包括显示区和非显示区,非显示区包括芯片集成区以及扇出区;信号端子阵列,包括多个信号线端子;多条信号线;以及测试组件,测试组件包括:测试数据线;第一开关阵列,位于多个信号端子的背离显示区的一侧,第一开关阵列包括多个第一开关,每个第一开关将对应一个信号线端子与测试数据线连接;第二开关阵列,位于扇出区,第二开关阵列包括多个第二开关,每个第二开关将对应一个信号线端子与测试数据线连接;以及测试控制线,用于提供控制第一开关、第二开关通断的测试控制信号。根据本发明实施例的阵列基板,对测试组件分区布局,提高显示面板测试组件的布局合理性。

技术领域

本发明涉及显示领域,具体涉及一种阵列基板及显示面板。

背景技术

平面显示面板因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点,而被广泛的应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品,成为显示面板中的主流。

平面显示面板通常包括阵列基板,阵列基板包括显示区和围绕显示区的非显示区,非显示区包括芯片集成区。为满足电子产品窄边框的设计需求,需要尽量缩减芯片集成区及芯片集成区附近的非显示区的面积,而在芯片集成区附近,往往还需要布置用于显示测试的电路。因此,芯片集成区及附近的非显示区的面积有限,期望一种测试组件的合理布局。

发明内容

本发明提供一种阵列基板及显示面板,对测试组件分区布局,提高显示面板测试组件的布局合理性。

一方面,本发明实施例提供一种阵列基板,其包括:衬底,包括显示区和围绕显示区的非显示区,非显示区包括芯片集成区以及扇出区,扇出区位于连接于显示区与芯片集成区之间;信号端子阵列,位于芯片集成区,信号端子阵列包括多个信号线端子;多条信号线,延伸于显示区,并经由扇出区与多个信号线端子对应连接;以及测试组件,设置于非显示区,其中测试组件包括:测试数据线,用于提供测试数据信号;第一开关阵列,位于多个信号端子的背离显示区的一侧,第一开关阵列包括多个第一开关,每个第一开关将对应一个信号线端子与测试数据线连接;第二开关阵列,位于扇出区,第二开关阵列包括多个第二开关,每个第二开关将对应一个信号线端子与测试数据线连接;以及测试控制线,与多个第一开关的控制端、多个第二开关的控制端连接,用于提供控制第一开关、第二开关通断的测试控制信号。

另一方面,本发明实施例提供一种显示面板,其包括前述任一实施方式的阵列基板。

根据本发明实施例的阵列基板,测试组件包括第一开关阵列和第二开关阵列,其中第一开关阵列位于多个信号端子的背离显示区的一侧,第二开关阵列所述扇出区。即其中一部分测试组件被转移至扇出区,从而减少测试组件对芯片集成区的占用。当阵列基板的芯片集成区面积较小时,可以将芯片集成区无法容纳的一部分测试组件设置于扇出区,保证阵列基板具有完整的测试组件,使得阵列基板具有完整的显示测试功能,能够对扇出的各信号线进行检测,便于及时发现阵列基板的信号线连接不良,以更合理的结构布局实现阵列基板的完整功能。

附图说明

通过阅读以下参照附图对非限制性实施例所作的详细描述,本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显,其中,相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征,附图并未按照实际的比例绘制。

图1是根据本发明一种实施例提供的阵列基板的俯视示意图;

图2是根据本发明一种实施例提供的阵列基板中第二开关阵列处的局部放大示意图;

图3是根据本发明又一种实施例提供的阵列基板的俯视示意图;

图4是根据本发明又一种实施例提供的阵列基板中第一开关阵列处的局部放大示意图;

图5是根据本发明又一种实施例提供的阵列基板的俯视示意图;

图6是根据本发明又一种实施例提供的阵列基板中第一开关阵列处的局部放大示意图;

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