[发明专利]一种装配精度分析方法、装置及系统

说明书

本发明提供一种装配精度分析方法、装置及系统，涉及机械制造技术领域，该方法包括：根据待装配体的尺寸和公差以及用户设置的装配功能需求，获取装配偏差传递路径；根据用户设置的离散需求，对待装配体的几何表面进行离散处理，获得多个离散点；几何表面为待装配体在装配偏差传递路径上的表面；根据公差和多个离散点，生成待装配体的目标非理想表面模型；根据目标非理想表面模型，获得装配偏差传递路径上对应的多个多面体模型；根据多个多面体模型对应的装配结构，对多面体模型进行运算，获得装配功能要求多面体模型；最终获得装配精度。本发明实现了结合零件的形貌特征和受力变形进行装配精度分析，提高了分析结果的准确性。

技术领域

本发明涉及机械制造技术领域，尤其是涉及一种装配精度分析方法、装置及系统。

背景技术

随着机电产品不断向小型化、复杂化、高精度、性能高稳定等方向发展，产品装配要求越来越高，装配性能保证也越来越困难。几何精度设计是保证产品性能的重要手段，通过几何精度设计，既要控制零件表面的制造误差，保证零件的互换性和制造的经济性，也要满足整个产品的性能要求。

然而，由于实际加工的零件表面不可避免地会与理想几何表面存在差异，随着产品精度要求不断提高，把这些差异简单地处理成理想几何表面沿其理论位置的平移和旋转，已经无法准确体现零件表面的形貌特征对装配精度的影响，另外，在装配过程中由于零部件自身重力或定位夹紧等外力影响零件之间的相互位置关系，因而也会对装配质量产生一定的影响。

发明内容

本发明的目的在于提供一种装配精度分析方法、装置及系统，从而解决现有技术中零件表面的形貌特征和零部件自身重力或定位夹紧力等外力影响装配精度的问题。

为了达到上述目的，本发明提供一种装配精度分析方法，包括：

根据待装配体的尺寸和公差以及用户设置的装配功能需求，获取装配偏差传递路径；

根据用户设置的离散需求，对所述待装配体的几何表面进行离散处理，获得多个离散点；其中，所述几何表面为所述待装配体在所述装配偏差传递路径上的表面；

根据所述公差和多个所述离散点，生成所述待装配体的目标非理想表面模型；

根据所述目标非理想表面模型，获得所述装配偏差传递路径上对应的多个多面体模型；

根据多个所述多面体模型对应的装配结构，对所述多面体模型进行运算，获得装配功能要求多面体模型；

根据所述装配功能要求多面体模型，获得装配精度。

可选的，所述根据待装配体的尺寸和公差以及用户设置的装配功能需求，获取装配偏差传递路径，包括：

获取用户设置的待装配体的三维设计图；

在所述三维设计图中，获取待装配体的尺寸、公差和装配约束关系；

获取用户设置的装配功能需求；

根据所述装配功能需求、所述公差和所述装配约束关系，获取装配关系图；

在所述装配关系图中，获得满足装配功能需求的装配偏差传递路径。

可选的，所述公差至少包括定位定向公差和形状公差；

所述根据所述公差和多个所述离散点，生成所述待装配体的目标非理想表面模型，包括：

根据所述定位定向公差、所述尺寸和多个所述离散点，采用小位移旋量模型，对所述待装配体的各零件的配合表面进行定位定向误差建模，获得目标定位定向误差模型；

根据所述形状公差和多个所述离散点，采用基函数叠加算法，对所述待装配体的各零件的配合表面进行形状误差建模，获得目标形状误差模型；