[发明专利]检测装置及检测方法有效

专利信息
申请号: 202010622445.9 申请日: 2020-06-30
公开(公告)号: CN111751089B 公开(公告)日: 2022-05-31
发明(设计)人: 张显军;吴少敏;吴坚;刘永华 申请(专利权)人: 联想(北京)有限公司
主分类号: G01M11/08 分类号: G01M11/08;G01M11/02
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 王姗姗;张颖玲
地址: 100085 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 检测 装置 方法
【说明书】:

本申请实施例公开了一种检测方法及检测装置,检测方法包括:支撑被检测设备的至少部分,使得被检测设备处于支撑状态;以满足第一条件的外力接触处于显示状态的被检测设备;采集外力接触下被检测设备的显示屏的展示效果,以形成待处理图像集合,待处理图像集合包括至少一张图像;处理待处理图像集合,确定显示屏的展示效果因外力接触的改变是否满足第二条件。本申请实施例的检测方法,通过支撑被检测设备使得被检测设备处于支撑状态,以满足第一条件的外力接触处于显示状态的被检测设备,从而不需要人工接触被检测设备,能够大大提高被检测设备的检测效率。

技术领域

本申请涉及一种检测装置及检测方法。

背景技术

在生产过程中,需要对被检测设备进行检测。然而,现有技术中,在对被检测设备进行检测的过程中,需要人工接触被检测设备进行检测,大大影响了被检测设备的检测效率。

发明内容

有鉴于此,本申请实施例期望提供一种检测装置及检测方法。

为达到上述目的,本申请的技术方案是这样实现的:

本申请实施例提供了一种检测方法,包括:

支撑所述被检测设备的至少部分,使得所述被检测设备处于支撑状态;

以满足第一条件的外力接触处于显示状态的被检测设备,其中,所述第一条件至少包括所述被检测设备变形,且所述外力不损坏所述被检测设备;所述被检测设备变形为所述被检测设备与所述外力的接触点相对于所述被检测设备的被支撑点变形;

采集所述外力接触下所述被检测设备的显示屏的展示效果,以形成待处理图像集合,所述待处理图像集合包括至少一张图像;

处理所述待处理图像集合,确定所述显示屏的展示效果因所述外力接触的改变是否满足第二条件。

本申请实施例还提供了一种检测装置,所述检测装置包括:

控制支撑模块,用于控制支撑装置支撑所述被检测设备的至少部分,使得所述被检测设备处于支撑状态;

控制运动模块,用于控制运动装置以满足第一条件的外力接触处于显示状态的被检测设备,其中,所述第一条件至少包括所述被检测设备变形,且所述外力不损坏所述被检测设备;所述被检测设备变形为所述被检测设备与所述外力的接触点相对于所述被检测设备的被支撑点变形;

控制采集模块,用于控制采集装置采集所述外力接触下所述被检测设备的显示屏的展示效果,以形成待处理图像集合,所述待处理图像集包括至少一张图像;

控制处理模块,用于处理所述待处理图像集合,确定所述显示屏的展示效果因所述外力接触的改变是否满足第二条件。

本申请实施例中的所述检测方法,支撑被检测设备的至少部分,使得被检测设备处于支撑状态;以满足第一条件的外力接触处于显示状态的被检测设备;采集外力接触下被检测设备的显示屏的展示效果,以形成待处理图像集合,待处理图像集合包括至少一张图像;处理所述待处理图像集合,确定显示屏的展示效果因外力接触的改变是否满足第二条件;通过支撑被检测设备使得被检测设备处于支撑状态,以满足第一条件的外力接触处于显示状态的被检测设备,从而不需要人工接触被检测设备,能够大大提高被检测设备的检测效率。

附图说明

图1为本申请实施例中检测方法的一个实施例的流程图;

图2为本申请实施例中检测设备的一个可选的局部结构示意图,其中,F1为第一方向,F3为第三方向;

图3为本申请实施例中检测设备的一个可选的局部结构示意图,其中,F1为第一方向,F3为第三方向;

图4为本申请实施例中检测设备的一个可选的局部结构示意图,其中,F1为第一方向,F3为第三方向;

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