[发明专利]物位计、测量方法及系统

权利要求书

1.一种物位计，其特征在于，所述物位计包括天线，所述天线包括：

至少一个发射天线，用于形成发射波，其中所述发射波经由对象反射而形成回波；以及

两个以上的接收天线，用于接收来自一个对象反射而形成的回波信号，其中所述两个以上的接收天线的波瓣角度设置为彼此不同，从而基于所述两个以上的接收天线所接收的所述回波信号的能量差值、以及所述回波信号的距离，来确定所述一个对象的角度。

2.如权利要求1所述的物位计，其特征在于，所述两个以上的接收天线同时接收所述回波信号，并且对所述两个以上的接收天线接收的所述回波信号同时进行处理，以得到所述能量差值。

3.如权利要求1所述的物位计，其特征在于，所述两个以上的接收天线分时接收所述回波信号，并且对所述两个以上的接收天线接收的所述回波信号分时进行处理，以得到所述能量差值。

4.如权利要求1所述的物位计，其特征在于，所述两个以上的接收天线的设置角度不同，而使得所述两个以上的接收天线的主波瓣角度彼此不同。

5.如权利要求1所述的物位计，其特征在于，所述两个以上的接收天线为结构彼此不同的天线，而使得所述两个以上的接收天线的主波瓣角度彼此不同。

6.一种测量系统，其特征在于，包括：

如权利要求1至5中任一项所述的物位计；

显示装置，根据所述物位计的测量信息来实时更新所显示的信息；以及

通信装置，用于实现所述物位计与所述显示装置之间的双向通信。

7.一种测量方法，其特征在于，包括：

通过至少一个发射天线形成发射波；

所述发射波经由一个对象反射后形成回波信号；

通过两个以上的接收天线接收所述回波信号，其中所述两个以上的接收天线的主波瓣角度设置为彼此不同；以及

基于所述两个以上的接收天线所接收的所述回波信号的能量差值、以及所述回波信号的距离，来确定所述一个对象所处的角度。

8.一种物位计，其特征在于，所述物位计包括微带天线及微波透镜，所述微带天线包括至少一个发射天线和两个以上的接收天线：

所述至少一个发射天线，用于形成发射波，其中所述发射波经由对象反射而形成回波，

所述两个以上的接收天线，用于接收来自一个对象反射而形成的回波信号，通过所述两个以上的接收天线接收的回波信号之间的相位差，来确定所述回波信号是否为来自作为干扰物的一个对象的反射后的回波信号，

所述微波透镜用于会聚所述发射波的波束及所述回波的波束，所述至少一个发射天线与所述两个以上的接收天线位于所述微波透镜的一侧，而所述对象位于所述微波透镜的另一侧。

9.如权利要求8所述的物位计，其特征在于，所述两个以上的接收天线的波瓣角度设置为彼此不同，从而基于所述两个以上的接收天线所接收的所述回波信号的能量差值、所述回波信号的距离、以及基于回波信号之间的相位差得到的角度范围，来确定所述一个对象的角度。

10.一种测量系统，其特征在于，包括：

如权利要求8或9所述的物位计；

显示装置，根据所述物位计的测量信息来实时更新所显示的信息；以及

通信装置，用于实现所述物位计与所述显示装置之间的双向通信。