[发明专利]高光响应TiO2有效

专利信息
申请号: 202010631397.X 申请日: 2020-07-03
公开(公告)号: CN111725348B 公开(公告)日: 2021-06-01
发明(设计)人: 孙颖慧;刘丙绪;王荣明 申请(专利权)人: 北京科技大学
主分类号: H01L31/113 分类号: H01L31/113;H01L31/0224;H01L31/032;H01L31/18
代理公司: 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 代理人: 皋吉甫
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 响应 tio base sub
【说明书】:

发明涉及光电器件领域,提供了一种高光响应TiO2/MoS2异质结可见光探测器及制备方法,所述探测器基于背栅MoS2场效应晶体管,包括沟道MoS2、修饰层TiO2、介电层SiO2、源漏极Au和栅极Si,修饰层TiO2修饰在沟道MoS2表面。本发明方法采用微机械剥离法和定点转移电极法构筑背栅少层MoS2场效应晶体管,在沟道表面沉积Ti,自然氧化得到探测器。本发明可获得比较完美的Au/MoS2界面,避免破坏MoS2结构或引入杂质;Ti的强浸润性使得TiO2具有超薄特性,并增大了TiO2与MoS2间接触面积,TiO2中氧空位提升可见光响应,TiO2在MoS2中引入更多空穴陷阱,增强光诱导栅控效应。

技术领域

本发明涉及光电器件领域,特别涉及一种高光响应TiO2/MoS2异质结可见光探测器及制备方法。

背景技术

随着光电器件朝着横向高度集成和纵向不断减薄的方向发展,商业化应用的硅基场效应管正面临着难以进一步微型化的发展瓶颈。二维过渡金属硫化物 (TransitionMetal Dichalcogenides,TMDs)的出现为延续摩尔定律注入了新的希望。TMDs因具有可调的半导体能带结构、强激子发光、高电流开关比等优异的物理特性,在场效应管、发光二级管、光电探测器等微电子和光电子领域展现出十分重要的应用前景。但是,单一组分的TMDs光探测器的低光响应率和低比探测率难以满足器件实际应用的需要。为此,在纳米尺度上设计和制备基于 TMDs异质结构的高性能光电探测器是当前研究的重要方向,特别是在研制高光响应的金属氧化物/TMDs光探测器方面仍有巨大的发展空间。

金属氧化物/TMDs异质结构由于存在电荷转移、电荷陷阱、介电屏蔽、压电效应等界面电荷效应,可以实现对TMDs光电性能的优化,提升其在光电领域的应用潜力。二者间的界面电荷效应与界面状态紧密相关。金属氧化物/TMDs 异质结具有可控的表面、界面和独特的能带排列,有望成为最有前途的光电功能材料之一。基于金属氧化物/TMDs异质结的光探测器由于显著增强的光探测性能,为其在光电探测中的应用提供了良好基础,也为构筑新型高性能TMDs光电探测器件提供了新思路。

发明内容

本发明的目的就是解决现有技术的不足,提供了一种高光响应TiO2/MoS2异质结可见光探测器及制备方法。

本发明采用如下技术方案:

一种高光响应TiO2/MoS2异质结可见光探测器,所述探测器基于背栅MoS2场效应晶体管,所述探测器包括沟道MoS2、修饰层TiO2、介电层SiO2、源漏极 Au和栅极Si,所述修饰层TiO2修饰在沟道MoS2表面。在现有案例中,我们采用微机械剥离法制备MoS2薄片。因为该方法通过使用胶带对层状结构的块体进行剥离,不会破坏MoS2面内的共价键,得到的MoS2通常具有缺陷少、高度结晶、表面清洁等特点。但不局限于微机械剥离法制备MoS2薄片。化学气相沉积法制备的单层或少层MoS2也可以替代使用。为了获得平整均匀的金属氧化物纳米结构,采用电子束蒸镀技术在MoS2表面沉积一定厚度的Ti,自然氧化后得到 TiO2。因为电子束蒸镀相比其他物理气相沉积方法具有能量密度高、沉积速率可控等优势,可用于制备高纯度高均匀性的薄膜材料。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京科技大学,未经北京科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010631397.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top