[发明专利]一种检测光源参数的控制电路和控制方法在审
申请号: | 202010631413.5 | 申请日: | 2020-07-03 |
公开(公告)号: | CN111800906A | 公开(公告)日: | 2020-10-20 |
发明(设计)人: | 李志荣 | 申请(专利权)人: | 广东奥普特科技股份有限公司 |
主分类号: | H05B45/12 | 分类号: | H05B45/12;H05B45/345 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 潘俊达;王滔 |
地址: | 523000 广东省东莞*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 检测 光源 参数 控制电路 控制 方法 | ||
本发明属于半导体集成电路的技术领域,具体涉及一种检测光源参数的控制电路,包括光源控制器和光源,光源控制器设置有主控模块、驱动模块和通信模块,光源设置有光源控制模块和LED模块,驱动模块分别与主控模块和LED模块连接,通信模块分别与主控模块和光源控制模块连接,光源控制模块用于储存和输出光源的电压参数、电流参数、占空比参数。本发明增加了光源参数检测项目,提高了光源参数的检测精度。同时,本发明还提供了一种检测光源参数的控制方法。
技术领域
本发明属于半导体集成电路的技术领域,具体涉及一种检测光源参数的控制电路和控制方法。
背景技术
光源是机器视觉行业的核心部件,随着机器视觉行业的发展,人们对机器视觉设备中的光源的要求变得越来越高,并且,随着光源功能逐渐增多,发明人发现了现有的光源参数标注额定电压、电流已经不能满足使用需求,还需要标注瞬间超额电压电流及占空比等参数。
现有的光源控制器是通过ADC检测光源的电压电流,这种检测方式精度不高且受温度影响很大,而且,目前的光源控制器的控制电路响应速度慢。此外,现有的光源控制器无法检测光源的超额电压电流及占空比等参数,只能靠人工手动的方式进行设置。
为此,亟需提出一种新型的光源控制电路和控制方法以解决上述问题。
发明内容
本发明的目的之一在于:针对现有技术的不足,提供一种检测光源参数的控制电路,解决了如何提高光源参数的检测精度的技术问题,增加了检测项目,提高对光源参数的检测能力。
为了实现上述目的,本发明采用如下技术方案:
一种检测光源参数的控制电路,包括光源控制器和光源,所述光源控制器设置有主控模块、驱动模块和通信模块,所述光源设置有光源控制模块和LED模块,所述驱动模块分别与所述主控模块和所述LED模块连接,所述通信模块分别与所述主控模块和所述光源控制模块连接,所述光源控制模块用于储存和输出所述光源的电压参数、电流参数、占空比参数。
进一步地,所述主控模块设置有第一控制单元,所述第一控制单元与所述通信模块连接,所述通信模块为RS485芯片。
进一步地,所述光源控制模块设置有电压调节单元和第二控制单元,所述电压调节单元与所述光源控制器的供电端连接,所述第二控制单元与所述通信模块连接,所述第二控制单元用于储存所述光源的电压参数、电流参数、占空比参数。
进一步地,所述第一控制单元和所述第二控制单元均为STM32F103芯片,所述电压调节单元为LM1117芯片。
进一步地,所述光源控制模块设置有信号处理单元,所述信号处理单元分别与所述通信模块和所述第二控制单元连接,所述信号处理单元用于输出所述光源的电压参数、电流参数、占空比参数。
进一步地,所述信号处理单元为RS485芯片,所述RS485芯片分别与所述通信模块和所述第二控制单元连接。
进一步地,所述驱动模块设置有运放单元和功率调控单元,所述运放单元连接于所述功率调控单元,所述运放单元和所述功率调控单元形成负反馈恒流电路。
进一步地,所述运放单元与所述第一控制单元连接,所述功率调控单元与所述LED模块连接,所述功率调控单元用于增加输出功率和增大驱动电流,所述LED模块包括电阻和若干个LED灯,电阻和若干个LED灯串联连接。
进一步地,所述运放单元为LM258运放芯片,所述功率调控单元为N沟道MOS管,N沟道MOS管的型号为IRLZ44N。
本发明的目的之二在于:提供一种检测光源参数的控制方法,包括以下步骤:
S1:主控模块使驱动模块关闭输出,并使通信模块的输入和输出均为髙阻状态;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广东奥普特科技股份有限公司,未经广东奥普特科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010631413.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种跨路由器终端通信方法及装置
- 下一篇:私钥生成方法、设备和存储介质