[发明专利]一种IGBT器件测试装置及测试方法

权利要求书

1.一种IGBT器件测试装置，其特征在于，包括：可变温度湿度试验箱、多个测试工位、测试与控制模块、保护开关模块、测试电源及多条电源引线，其中，

可变温度湿度试验箱，用于控制测试环境温度及湿度；

每个测试工位均置于所述可变温度湿度试验箱内部，每个测试工位用于固定一个IGBT，并对IGBT进行散热；

测试与控制模块，用于对IGBT进行周期测试，在每次周期测试中依次对IGBT进行高压测试及静态参数测试；

测试电源，与IGBT的栅极连接，用于输出测试脉冲信号，所述脉冲信号用于控制IGBT的通断状态；

多条电源引线，用于将外接电源与IGBT连接，并采集IGBT的漏电流；

保护开关模块，用于控制外接电源与每个IGBT的连接与断开；

对每个IGBT进行高压测试的过程，包括：闭合每个保护开关模块，控制外接电源对每个IGBT持续施加预设高压测试电压；判断对每个IGBT进行高压测试的持续时间是否达到预设高压测试时间，当对每个IGBT进行高压测试的持续时间达到预设高压测试时间时，断开每个保护开关模块，高压测试结束。

2.根据权利要求1所述的IGBT器件测试装置，其特征在于，还包括：

多个接线端子，置于所述可变温度湿度试验箱箱壁的任意一侧，用于将外接电源与电源引线连接；

多个测试端子，与对应的IGBT的集电极、发射极及栅极连接，用于采集IGBT电压及电流；

固定支架，用于固定每个测试工位。

3.根据权利要求2所述的IGBT器件测试装置，其特征在于，每个所述测试工位均包括：待测器件固定板、绝缘层及散热器，其中，待测器件固定板、绝缘层及散热器依次固定于所述固定支架上，

待测器件固定板，用于固定所述IGBT；

绝缘层，用于对待测器件固定板与散热器进行绝缘；

散热器，用于对IGBT进行散热。

4.根据权利要求3所述的IGBT器件测试装置，其特征在于，所述散热器为水冷散热器，水冷散热器与散热器水管连接，散热器水管与外置水冷装置连接。

5.根据权利要求2所述的IGBT器件测试装置，其特征在于，测试与控制模块还用于根据每个IGBT的集射极电压及漏电流计算每个IGBT的壳温，并根据每个IGBT的壳温及预设温度阈值，生成每个IGBT的温度控制信号。

6.根据权利要求5所述的IGBT器件测试装置，其特征在于，还包括：

温度控制模块，用于根据每个IGBT的温度控制信号，单独控制每个测试工位的水冷散热器的水流速度。

7.根据权利要求3所述的IGBT器件测试装置，其特征在于，所述待测器件固定板竖直固定IGBT。

8.一种IGBT器件测试方法，其特征在于，基于权利要求1-7任一项所述的IGBT器件测试装置对IGBT器件进行测试，所述IGBT器件测试方法包括：

获取预设测试温度、预设测试相对湿度；

控制所述可变温度湿度试验箱内的温度及湿度达到预设测试温度、预设测试相对湿度后，对IGBT进行周期测试；

对每个IGBT进行周期测试结束后，记录每个IGBT周期测试次数，判断每个IGBT的周期测试次数是否达到预设测试次数，当IGBT的周期测试次数未达到预设测试次数时，返回所述对IGBT进行周期测试的步骤，直到IGBT的周期测试次数达到预设测试次数时，测试结束；

所述周期测试包括高压测试及静态参数测试，其中，对IGBT依次进行高压测试及静态参数测试；

对每个IGBT进行高压测试的过程，包括：闭合每个保护开关模块，控制外接电源对每个IGBT持续施加预设高压测试电压；判断对每个IGBT进行高压测试的持续时间是否达到预设高压测试时间，当对每个IGBT进行高压测试的持续时间达到预设高压测试时间时，断开每个保护开关模块，高压测试结束。