[发明专利]应用于真空光阱系统的微球团簇状态检测装置及检测方法有效
申请号: | 202010643444.2 | 申请日: | 2020-07-07 |
公开(公告)号: | CN111855505B | 公开(公告)日: | 2021-12-28 |
发明(设计)人: | 李楠;胡梦珠;胡慧珠;陈杏藩;舒晓武;刘承 | 申请(专利权)人: | 浙江大学;之江实验室 |
主分类号: | G01N15/00 | 分类号: | G01N15/00 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人: | 林松海 |
地址: | 310058 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 应用于 真空 系统 微球团簇 状态 检测 装置 方法 | ||
本发明公开了应用于真空光阱系统的微球团簇状态检测装置及检测方法。所述装置包括样品输入模块、光阱捕获模块、旋转探测分析模块。通过光阱模块捕获微粒时,理想情况是捕获单个微粒,但实际中经常捕获到多个微球团簇而成的非对称结构。当捕获到这种非对称结构的多微粒时,可利用圆偏光提供的自旋角动量使其在平衡点处实现旋转,从而改变捕获光的偏振状态,在功率谱上会出现表征其旋转的峰,通过旋转信号的分析可以对单球捕获的情况进行筛选。本发明在空气或真空等多种环境条件下,都能够对微球团簇状态进行检测,为稳定捕获单个微球提供重要的判断依据,规避反复捕获的情况,从而有效提高实验效率,具有重要的应用前景。
技术领域
本发明涉及应用于光学工程领域的光阱测量装置,尤其是应用于真空光阱系统的微球团簇状态检测装置及检测方法。
背景技术
根据量子理论,光束是一群以光速运动的、既有质量又有动量的光子,当光子入射到介质表面发生折射和反射,光子的速度和方向改变,导致其动量矢量的变化,由动量守恒定律就可以推出,当光束入射微粒,光子的动量变化量就是微粒的动量变化量,所以光束对微粒存在力的作用,称为光辐射压,光辐射压包括了沿光束传播方向的散射力和总是指向光强较强处的梯度力,在这两个力的作用下,光束能在一定区域内对微粒进行捕捉,即令其稳定在某特定位置,该区域称为光阱。
激光聚集可形成的光阱,令微小物体受光压而被束缚在光阱处,由于光阱使用无形的光束来实现对微粒非机械接触捕获,不会产生机械损伤,同时光阱的机械部件离捕获对象的距离都远大于捕获对象的尺度,是“遥控”的操作,因而几乎不影响粒子的周围环境,由于光阱的非接触特性,其可以克服传统机械测量装置的机械摩擦的干扰,从而获得高的探测精度,然而,微纳粒子作为光阱的捕获介质,其形态与表面粗糙度决定了光阱测量装置的探测精度。
光阱测量装置可以用在很多领域,如极弱力测量、光阱加速度计(陈晶,胡慧珠,白剑,舒晓武,刘承.利用双光束悬浮光阱测量加速度的装置,CN101320049 A)。这种装置工作在真空环境中时,会极大的降低热噪声,获得更高的测量灵敏度,是近几年的研究热点。
一般情况下,光阱中捕获的百纳米尺寸的微粒都不是单球,而是由两个或更多微球组成的团簇,处在这种捕获状态的微粒在抽真空过程中很快就会脱离平衡位置逃逸出去,之后实验人员只能选择再次打开真空腔开始第二次捕获,使得实验的效率大大降低。
发明内容
本发明的目的是针对现有真空光阱实验效率不高的问题,提出了一种微球团簇状态的检测方式,通过检测光阱中微粒的旋转信号来筛选出捕获单球的情况。
一种应用于真空光阱系统的微球团簇状态检测装置,包括样品输入模块、光阱捕获模块、旋转探测模块;
所述的样品输入模块包含传输装置和待测微粒,用于存储待测微粒并传送至光阱捕获模块;
所述的光阱捕获模块用于将待测微粒稳定捕获在光阱平衡点处并使待测微粒旋转;
所述的旋转探测分析模块依次包括准直透镜L1、分束器BS、半波片、偏振分束器PBS、反射镜M1、平衡探测器、光谱分析仪;
旋转探测分析模块用于收集和处理受待测微粒旋转影响的捕获光,出射光束通过准直透镜并被分束器均分,一半的功率用于微粒的质心检测,另一半通过半波片入射到偏振分束器上,利用平衡光电探测器收集偏振分束前后两束光束,最终在光谱分析仪上得到对应微球旋转的信号,从而进一步判断捕获的微粒是否为单球。
所述的光阱捕获模块包括激光器、四分之一波片、物镜OBJ;激光器发出激光,即初始捕获光束为线偏振光,经过四分之一波片变为圆偏振光,进入高数值孔径物镜OBJ后形成高聚焦光阱实现对微粒的捕获和旋转。
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