[发明专利]一种伽玛能谱背景计数方法

权利要求书

1.一种伽玛能谱背景计数方法，其特征在于，包括：

根据测量得到的伽玛能谱数据，在能量-计数坐标系中生成伽玛能谱曲线；

从所述伽玛能谱曲线的低能端开始向高能端方向执行以下背景计数寻找过程：

计算相邻两个能量刻度E(i+1)、E(i)所对应的伽玛能谱计数值的差值count(i+1)-count(i)；

若所述差值小于等于预设的门限值，则将伽玛能谱计数值count(i)作为能量在E(i)处的背景计数值，其中，所述门限值根据放射性核素测量仪器的测量数据以及测量时长确定；

若所述差值大于预设的门限值，则计算能量E(i)所对应的半高宽FWHM(i)，并且在E(i)～E(i)+FWHM(i)的能量区间内，计算所有相邻两个能量刻度所对应的伽玛能谱计数值的差值的绝对值；若有预定比例以上的绝对值大于所述门限值，则提取能量E(i)+q×FWHM(i)所对应的伽玛能谱计数值count(j)，忽略count(i)～count(j)之间的伽玛能谱计数值；若未有预定比例以上的绝对值大于所述门限值，则将能量在E(i)～E(i)+FWHM(i)区间内的伽玛能谱计数值作为该区间内的背景计数值；其中，所述预定比例为90％；系数q在1.2～1.4的范围内取值。

2.根据权利要求1所述的伽玛能谱背景计数方法，其特征在于，还包括：

根据最终获得的背景计数值采用相邻两点直线连接的方式，生成背景计数曲线。

3.根据权利要求1所述的伽玛能谱背景计数方法，其特征在于，在所述背景计数寻找过程中，首先执行：

根据待测环境中目标核素所对应的能量峰在所述能量-计数坐标系中所出现的位置，划定目标核素不可能存在的低能区0～E0；

将能量小于E0的伽玛能谱计数值作为能量在0～E0区间内的背景计数值；

从能量等于E0开始，执行所述计算相邻两个能量刻度E(i+1)、E(i)所对应的伽玛能谱计数值的差值count(i+1)-count(i)的过程。

4.根据权利要求1所述的伽玛能谱背景计数方法，其特征在于，所述半高宽FWHM(i)根据放射性核素测量仪器的以下刻度公式计算生成：

其中，c、d、e、f为半高宽公式的拟合系数。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的伽玛能谱背景计数方法，其特征在于，所述根据测量得到的伽玛能谱数据，在能量-计数坐标系中生成伽玛能谱曲线的过程包括：

利用放射性核素测量仪器测量得到的伽玛能谱数据，在道址-计数坐标系中生成伽玛能谱曲线；

对道址-计数坐标系中的伽玛能谱曲线进行平滑滤波处理；

根据测量使用的放射性核素测量仪器的能量刻度公式：

E＝a·ch+b

将道址-计数坐标系中的伽玛能谱曲线转换成能量-计数坐标系中的伽玛能谱曲线；其中，E是能量，单位keV；ch是道址；a和b为能量刻度拟合系数。

6.根据权利要求5所述的伽玛能谱背景计数方法，其特征在于，所述平滑滤波的窗宽根据测量数据和测量时长择优确定。

7.根据权利要求6所述的伽玛能谱背景计数方法，其特征在于，所述平滑滤波的窗宽为5。