[发明专利]一种快速离子温度和旋转速度的测量方法在审
| 申请号： | 202010650448.3 | 申请日： | 2020-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN113923844A | 公开（公告）日： | 2022-01-11 |
| 发明（设计）人： | 何小雪;余德良;陈文锦;刘亮;魏彦玲;何小斐 | 申请（专利权）人： | 核工业西南物理研究院 |
| 主分类号： | H05H1/00 | 分类号： | H05H1/00;G21B1/05 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 11007 | 代理人： | 刘昕宇 |
| 地址： | 610041 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 快速 离子 温度 旋转 速度 测量方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种快速离子温度和旋转速度的测量方法，其特征在于，包括下述步骤：
步骤一：接收光谱
接收等离子体放电光谱；
步骤二：衍射分光
对接收到的光信号进行衍射分光；
步骤三：光电耦合
光电耦合分为不曝光区域光电耦合和曝光区域光电耦合。
2.如权利要求1所述的一种快速离子温度和旋转速度的测量方法，其特征在于：所述的步骤一中通过传输光纤接收等离子体放电光谱。
3.如权利要求2所述的一种快速离子温度和旋转速度的测量方法，其特征在于：所述的步骤二中的衍射分光，通过光学系统实现。
4.如权利要求3所述的一种快速离子温度和旋转速度的测量方法，其特征在于：所述的步骤二中除了衍射分光外，还进行滤光。
5.如权利要求4所述的一种快速离子温度和旋转速度的测量方法，其特征在于：所述的步骤二的滤光是指滤除目标谱线以外波段的光谱信号。
6.如权利要求5所述的一种快速离子温度和旋转速度的测量方法，其特征在于：所述的步骤三中目标谱线只成像到光电耦合器件CCD像面(4)的曝光区域(6)，减小曝光面积，增大硬件采集频率。
7.如权利要求6所述的一种快速离子温度和旋转速度的测量方法，其特征在于：所述的步骤三还进行光谱采样，并计算等离子温度和旋转速度。
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