[发明专利]用于测量有机发光材料的方法、计算设备和计算机存储介质

说明书

本公开涉及一种用于测量有机发光材料的方法、计算设备和计算机存储介质。该方法包括：将待测有机发光材料组件放置在光谱仪的样品台上；使得入射光以预定角度从待测有机材料层远离衬底的一侧照射待测有机材料层；旋转光谱仪的探测装置，以便扫描测量经由棱镜发出的各个角度的光强；以及基于经由扫描测量而获得的非偏振光谱信息与对照非偏振光谱信息之间的比较，确定待测有机发光材料组件中的偶极子分布取向信息，偶极子分布取向信息至少包括偶极子的竖直分布信息和偶极子水平分布信息，对照非偏振光谱信息是经由叠加p偏振光谱信息和s偏振光谱信息而生成的。本公开能够精准衡量有机发光材料的发光特性。

技术领域

本公开总体上涉及有机发光材料的测量，并且具体地，涉及用于测量有机发光材料的方法、计算设备和计算机存储介质。

背景技术

测量有机发光材料的发光特性，例如，测量OLED组件的能量分布与发光特性时，通常会测量有机发光材料中的分子偶极取向参数(即偶极子的分布取向信息)。这主要是因为：有机发光材料的偶极子的分布取向信息、有机发光材料各层材料的折射率与吸收系数通常决定着有机发光材料的能量分布与发光特性，因此，藉由偶极子的分布取向信息可以用来衡量有机发光材料(例如OLED组件)的能量分布与发光特性。传统的测量有机发光材料(例如OLED组件)的方案，通常只能测量偶极子竖直取向信息，因此，难以精准衡量有机发光材料(例如OLED组件)的能量分布与发光特性。

综上，传统的用于测量有机发光材料的方案存在难以精准衡量有机发光材料(例如OLED组件)的发光特性的不足之处。

发明内容

本公开提供一种用于测量有机发光材料的方法、计算设备和计算机存储介质，能够精准衡量有机发光材料的发光特性。

根据本公开的第一方面，提供了一种用于测量有机发光材料的方法。该方法包括：将待测有机发光材料组件放置在光谱仪的样品台上，待测有机发光材料组件包括衬底和待测有机材料层，待测有机材料层被配置在衬底的一侧，衬底的另一侧层叠有棱镜；使得入射光以预定角度从待测有机材料层远离衬底的一侧照射待测有机材料层；旋转光谱仪的探测装置，以便扫描测量经由棱镜发出的各个角度的光强；以及基于经由扫描测量而获得的非偏振光谱信息与对照非偏振光谱信息之间的比较，确定待测有机发光材料组件中的偶极子分布取向信息，偶极子分布取向信息至少包括偶极子的竖直分布信息和偶极子水平分布信息，对照非偏振光谱信息是经由叠加p偏振光谱信息和s偏振光谱信息而生成的。

根据本发明的第二方面，还提供了一种用于测量有机发光材料的方法。该方法包括：获取扫描测量的非偏振光谱信号，非偏振光谱信号是经由旋转光谱仪的探测装置扫描测量待测有机发光材料组件经由棱镜发出的各个角度的光强而得到的，待测有机发光材料组件被入射光以预定角度照射；基于经由扫描测量而获得的非偏振光谱信息，生成光谱分布特征；基于拟合模型和偶极子的分布取向信息的预设值，生成与对照非偏振光谱信息相关联的对照光谱分布特征，对照非偏振光谱信息是经由叠加p偏振光谱信息和s偏振光谱信息而生成的；确定光谱分布特征和对照光谱分布特征的比较值是否符合预定条件；以及响应于确定光谱分布特征和对照光谱分布特征的比较值符合预定条件，生成偶极子的竖直分布信息、水平分布信息和分布不均匀信息中的至少一个。

根据本发明的第三方面，还提供了一种计算设备，该设备包括：至少一个处理单元；至少一个存储器，至少一个存储器被耦合到至少一个处理单元并且存储用于由至少一个处理单元执行的指令，指令当由至少一个处理单元执行时，使得设备执行本公开的第二方面中的方法。

根据本公开的第四方面，还提供了一种计算机可读存储介质。该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被机器执行时执行本公开的第二方面的方法。