[发明专利]一种快速测量高反光空间目标材质的方法

权利要求书

1.一种快速测量高反光空间目标材质的方法，其特征在于，基于激光雷达散射截面（LRCS）快速测量高反光空间目标材质，包括：

超连续谱激光光源经过实验系统光路准直后入射到待测样品上；其中，激光光源经准直后的光束，采用双光路进行测量；具体包括：沿光线方向依次设置的超连续谱激光光源、斩波器、分束镜A、透镜、分束镜B和样品架，所述斩波器与斩波器电源相连、所述斩波器电源与锁相放大器相连，所述分束镜A的入射光的反射侧设有探测器A、所述探测器A与锁相放大器相连，从分束镜A透射出的光经透镜到达分束镜B，透过分束镜B的光照射至待测样品上；所述分束镜B接收待测样品的散射光的反射侧设有探测器B、所述探测器B与锁相放大器相连，所述样品架安装在转台上，所述转台与步进电机相连，所述锁相放大器和步进电机均连接在微型计算机上；所述双光路为探测器A和探测器B的两个探测光路；其中，探测器A和探测器B为光电探测器；

光电探测器输出信号至信号处理系统进行处理，得到待测样品的激光雷达散射截面；

基于激光雷达散射截面和双向反射分布函数之间的函数关系，获得待测样品表面的双向反射分布函数；其中，根据先对超连续谱激光波长得到的雷达散射截面进行波长信号取均值，再基于激光雷达散射截面和双向反射分布函数之间的函数关系，获得待测样品表面的双向反射分布函数；

将获得的双向反射分布函数在已有的双向反射分布函数特征库中进行匹配，识别出待测样品的表面材料。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，超连续谱激光的波长范围为：400nm-2200nm，该波长的激光可以模拟太阳光和近红外光辐照下的空间背景光。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，待测样品安装在五维位移台上且处于转台中心轴位置，入射激光方向保持不变，探测器所在的转臂保持静止，样品台上的待测样品随着转台转动。