[发明专利]一种显示装置有效
申请号: | 202010652474.X | 申请日: | 2020-07-08 |
公开(公告)号: | CN111754907B | 公开(公告)日: | 2022-04-01 |
发明(设计)人: | 陶健 | 申请(专利权)人: | 武汉华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人: | 王芳芳 |
地址: | 430079 湖北省武汉市*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 显示装置 | ||
本申请提供一种显示装置,包括显示面板以及位于显示面板绑定区的至少两个驱动芯片;驱动芯片上设置有检测电路,检测电路包括多个子检测电路,每个子检测电路通过相应的控制开关对应连接显示面板显示区的一条数据线;显示面板设置有与检测电路电连接的检测焊盘,检测焊盘接收的检测信号经子检测电路传输至数据线上;其中,每个驱动芯片对应连接的数据线为一个数据线组,每个数据线组中数据线所对应连接的子检测电路的电阻连续渐变,从而解决检测电路置于驱动芯片IC内部时容易出现像素充电率差异而导致显示面板出现分屏的现象。
技术领域
本申请涉及显示技术领域,尤其涉及一种显示装置。
背景技术
随着手机全面屏的需求,下边框的窄化趋势越来越强,这股趋势也带动了大尺寸产品的窄边框趋势。成盒(Cell Test,CT)检测电路对于大尺寸不良品拦截有重大意义,这样会减少后段资材浪费,但是对于CT检测电路放置在驱动芯片IC内部的情况下,容易出现充电率差异而导致灰阶分屏现象,这样会对产品进行误判,影响产线作业的检出率。
传统结构中驱动芯片IC中部会设有一些虚设引脚(dummy pin),这样就会造成dummy pin两侧的CT检测电路需要通过较长的信号线进行连接,由于dummy pin造成CT检测电路的间隔,从而导致dummy pin两侧的CT检测电路的电阻差异较大,使得dummy pin两侧的CT检测电路向对应的数据线所传输的信号出现差异,即像素的充电率存在差异,进而造成显示面板出现分屏的现象。
因此,现有技术存在缺陷,急需解决。
发明内容
本申请提供一种显示装置,能够解决检测电路置于驱动芯片IC内部时容易出现像素充电率差异而导致显示面板出现分屏的现象。
为解决上述问题,本申请提供的技术方案如下:
本申请提供一种显示装置,包括显示面板以及位于显示面板绑定区的至少两个驱动芯片;
所述驱动芯片内设置有检测电路,所述检测电路包括多个子检测电路,每个所述子检测电路中包括控制开关,且每个所述子检测电路通过相应的所述控制开关对应连接显示面板显示区的一条数据线;
所述显示面板对应所述驱动芯片一侧的非显示区设置有检测焊盘,所述检测焊盘与所述检测电路电连接,所述检测焊盘接收的检测信号经所述子检测电路传输至所述数据线上;
其中,每个所述驱动芯片对应连接的所述数据线为一个数据线组,每个数据线组中数据线所对应连接的所述子检测电路的电阻从所述数据线组的两侧向中间逐渐增加,或者,每个数据线组中数据线所对应连接的所述子检测电路的电阻从所述数据线组的中间向两侧逐渐增加。
在本申请的显示装置中,所述检测电路包括一条检测控制线和至少两条检测信号线以及多个控制开关组,每个控制开关组中的控制开关与所述检测信号线一一对应;
所述控制开关的输入端接入对应的所述检测信号线,所述控制开关的控制端接入所述检测控制线,所述控制开关的输出端接入所述数据线。
在本申请的显示装置中,相邻两所述驱动芯片的所述检测电路通过所述检测控制线电连接。
在本申请的显示装置中,所述绑定区设置有N个驱动芯片,所述检测焊盘包括2N个检测焊盘组,N为大于或等于1的正整数;每个所述检测焊盘组中包括与所述检测信号线一一对应的第一检测焊盘以及与所述检测控制线对应的第二检测焊盘,一个所述驱动芯片对应连接两个所述检测焊盘组,两个所述检测焊盘组中的所述第一检测焊盘从所述检测信号线的两端给入检测信号。
在本申请的显示装置中,与每个所述数据线组中所述数据线连接的所述子检测电路的电阻由所述数据线组的两侧向中间的变化量一致。
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