[发明专利]芯片测试系统、方法、设备及介质

权利要求书

1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：

第一多路选择器，包括第一输入端、第一输出端、第一使能端和第一信号选择端；

至少一个第三多路选择器，每个所述第三多路选择器都包括第三输入端、第三输出端、第三使能端和第三信号选择端；

控制器，与所述第一使能端、第一信号选择端、第三使能端和第三信号选择端均连接；

至少三个验证设备，每个所述验证设备与所述第三输出端或所述第一输出端连接；

其中，所述第一输入端与被测芯片连接，所述第一输出端与所述第三输入端连接。

2.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述第三多路选择器的数量大于1时，每个所述验证设备仅与所述第三输出端连接。

3.如权利要求2所述的芯片测试系统，其特征在于，该系统还包括至少一个第二多路选择器，所述第二多路选择器设在所述第一多路选择器和所述第三多路选择器的中间，所述第二多路选择器包括第二输入端、第二输出端、第二使能端和第二信号选择端，所述第二使能端和第二信号选择端均与所述控制器连接，所述第一输出端与相邻的所述第二输入端连接，所述第三输入端与相邻的所述第二输出端连接。

4.如权利要求3所述的芯片测试系统，其特征在于，若所述第一输出端仅与相邻的所述第二输入端连接，则所述第二多路选择器的数量为2的倍数，且与所述第三多路选择器相邻的第二多路选择器的第二输出端还与所述验证设备连接。

5.如权利要求4所述的芯片测试系统，其特征在于，当所述第二多路选择器的数量大于2时，则相邻第二多路选择器的第二输出端和第二输入端连接。

6.如权利要求3所述的芯片测试系统，其特征在于，若所述第一输出端还与所述验证设备连接，则所述第二多路选择器的数量为正整数，且每个所述第二多路选择器的第二输出端都连接有一个所述验证设备。

7.如权利要求6所述的芯片测试系统，其特征在于，当所述第二多路选择器的数量大于1时，相邻的所述第二多路选择器的第二输出端和第二输入端连接。

8.一种芯片测试方法，其特征在于，该方法通过上述权利要求1-9中任一所述的芯片测试系统实施芯片测试。

9.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求8所述的芯片测试方法。

10.一种计算机介质，其特征在于，所述计算机介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求8所述的芯片测试方法。