[发明专利]一种判定大体积独石电容器缺损的检测方法有效
申请号: | 202010652844.X | 申请日: | 2020-07-08 |
公开(公告)号: | CN111964549B | 公开(公告)日: | 2022-06-17 |
发明(设计)人: | 范士海 | 申请(专利权)人: | 航天科工防御技术研究试验中心 |
主分类号: | G01B5/00 | 分类号: | G01B5/00 |
代理公司: | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人: | 李翔 |
地址: | 100085*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 判定 体积 电容器 缺损 检测 方法 | ||
本发明公开了一种判定大体积独石电容器缺损的检测方法,涉及独石电容器缺损判定技术领域,独石电容器的上下两面都有一定宽度的护片,左右两边有一定宽度的留边,护片的厚度为A,留边的厚度为B,缺损在与护片平行的面上距离棱线最远的距离为b,缺损在与留边平行的面上距离棱线最远的距离为a;计算若为合格品,否则为不合格品。
技术领域
本发明涉及独石电容器缺损判定技术领域,特别是指一种判定大体积独石电容器缺损的检测方法。
背景技术
独石电容器具有容体比大,介电常数高,无极性,化学稳定性好,损耗小、耐压高,适合表面贴装等优点,广泛应用于民用及国防等各个领域。随着技术的发展,对独石电容器的容量和耐压要求越来越高,鉴于此,出现了大体积高容量或高耐压的独石电容器,如CT41L-5868-2C1-4KV-104M型独石电容器,其外形尺寸为15.5mm×17.8mm×6.0mm,耐压达4KV,容量达100nF。
由于工艺原因以及运输和安装过程中磕碰,大体积电容器比较容易出现边缘破损情况。独石电容器上下两面都有一定厚度的护片,左右两边有一定厚度的留边,护片和留边为保护层,对电容器内芯起到保护作用。如果边缘破损超过了护片或留边的尺度,电容器内芯失去了保护层,这种电容器肯定是要报废的。即使边缘破损未超过了护片或留边的尺度,如果缺损太深,护片和留边的保护效果也要大打折扣,这种电容器也需要报废。通常规定缺损在护片层的深度不大于护片层厚度的四分之三,在留边层的深度不应大于留边层厚度的五分之三。但在实际操作中,现有手段无法直接测量缺损深度。目前,亟需一种测量缺损深度的方案。
发明内容
有鉴于此,本发明的目的在于提出一种判定大体积独石电容器缺损的检测方法,用于确定大体积独石电容器的缺损是否在合格的范围内。
基于上述目的本发明提供的一种判定大体积独石电容器缺损的检测方法,独石电容器包括矩形的电容器内芯和包裹在电容器内芯外部的包封层,包封层包括设置在电容器内芯上下两边的护片和设置在电容器内芯左右两边的留边,留边的两边分别与护片接触,护片的厚度小于留边的厚度,检测缺损在棱边上占据的长度l,若该缺损在棱边上占据的长度l大于棱边长度L的十分之一,则该缺损过大,独石电容器不合格;若该缺损在棱边上占据的长度l小于或等于棱边长度L的十分之一,独石电容器初步合格;
分别测量缺损位于与其所在棱线相交的两个平面上距离棱线最远的距离;
分别比较测量的两个数值与护片的宽度或留边的宽度的关系;
护片的厚度为A,留边的厚度为B,缺损在与护片平行的面上距离棱线最远的距离为b,缺损在与留边平行的面上距离棱线最远的距离为a;
计算若α+β的角度数值和小于等于90度,此时存在缺损的大体积独石电容器为合格品;否则为不合格品;即为合格品,否则为不合格品;
其中,α为标记线到留边外表面的距离与留边外表面上缺损到棱线最远的距离的点与标记线的连线两者在横截面上投影的角度值;
β为标记线到护片外表面的距离与护片外表面上缺损到棱线最远的距离的点与标记线的连线两者在横截面上投影的角度值;
标记线为横截面上,以缺损所在的棱线上的点为原点,向横截面内部为正向的坐标为0.75A、0.6B的点的集合。
可选的,所述缺损在与护片平行的面上距离棱线最远的距离b和缺损在与留边平行的面上距离棱线最远的距离a的测量方法为:
将独石电容器放置在用体视显微镜的物镜下;
将物镜对准缺损部位,调节对焦;
采集缺损部位的图像;
测量a和b。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于航天科工防御技术研究试验中心,未经航天科工防御技术研究试验中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010652844.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。