[发明专利]冷阱装置

说明书

本发明实施例公开了一种冷阱装置，用于光电测试系统，包括：冷阱和基座组件，冷阱包括壳体，壳体包括外套和内套，外套套设在内套外部，内套设有容置腔，外套与内套之间具有真空夹层；基座组件包括样品基座、导热板和隔热层，壳体罩设在所述隔热层上，样品基座设置在容置腔中，导热板的一端与样品基座连接，另一端与外接制冷设备连接，用于调节容置腔内温度；其中，冷阱还包括底座，基座组件安装在底座上，冷阱装置通过底座可拆卸安装在光电测试系统上。

技术领域

本发明涉及光电测试技术领域，尤其涉及一种冷阱装置。

背景技术

在进行样品光电测试时，样品在低温环境的性质表征非常重要，而直接对样品处进行降低温，会造成样品处出现大量的冷凝水或结冰，从而无法开展光电测试。尤其是样品附近如果不进行气氛隔绝，气体分子会作为导热介质，将周围的温度对低温样品进行热传导，无法实现降低温。因此，热传导隔离和水汽隔离是实现低温测试的关键。目前，由于不同的光电测试平台的低温制冷设备无法通用，因此在不同实验中需要重复购买和加载低温模块的光电测试设备，造成实验成本过高以及资源浪费。

发明内容

有鉴于此，本申请提供了一种通用的、可拆卸的冷阱装置代替原有光电测试系统中的样品基座，使得光电系统无需针对不同测试需求加载不同的低温模块。

本申请实施例提供了一种冷阱装置，用于光电测试系统，包括：

冷阱，包括壳体，所述壳体包括外套和内套，所述外套套设在所述内套外部，所述内套设有容置腔，所述外套与内套之间具有真空夹层；

基座组件，包括样品基座、导热板和隔热层，所述壳体罩设在所述隔热层上，所述样品基座设置在所述容置腔中，所述导热板的一端与所述样品基座连接，另一端与外接制冷设备连接，用于调节所述容置腔内温度；

其中，所述冷阱还包括底座，所述基座组件安装在所述底座上，所述冷阱装置通过所述底座可拆卸安装在所述光电测试系统上。

在本发明提供的冷阱装置中，所述底座的底部设置有固定部，所述冷阱装置通过所述固定部可拆卸安装在所述光电测试系统上。

在本发明提供的冷阱装置中，所述底座上还设有气嘴，所述隔热层与所述样品基座上均设置有与所述气嘴位置相对应的通孔，以使得所述气嘴能够通过所述通孔对所述容置腔内进行冲放气体或抽真空。

在本发明提供的冷阱装置中，所述冷阱还包括由绝热材料制成的上盖，所述上盖盖设在所述壳体顶端，以封闭所述容置腔。

在本发明提供的冷阱装置中，所述上盖与所述壳体可拆卸连接。

在本发明提供的冷阱装置中，所述导热板的一端设有制冷串口，所述导热板通过所述制冷串口与所述外接制冷设备连接。

在本发明提供的冷阱装置中，所述基座组件还包括温度传感器，所述温度传感器安装在所述样品基座上。

在本发明提供的冷阱装置中，所述样品基座还包括至少一个夹具，用于夹持测试工具。

在本发明提供的冷阱装置中，所述内套包括至少一条光学通道，所述光学通道包括第一窗口和第二窗口，所述第一窗口与所述第二窗口呈中心对称设置在所述内套壁上。

在本发明提供的冷阱装置中，所述外套上设置有观察通道，所述观察通道包括设置在所述外套上的第一观察部和第二观察部，所述第一观察部与所述第一窗口位置相对应，所述第二观察部与所述第二窗口位置相对应，以使得所述光电测试系统能够通过所述第一观察部和第二观察部采集光学信号。