[发明专利]一种基于透镜回波评估超声探头匹配层阻抗的方法及系统

权利要求书

1.一种基于透镜回波评估超声探头匹配层阻抗的方法，其特征在于，包括步骤：

S1.获取脉冲发射器生成的窄脉冲波形，并存储所述窄脉冲波形；

S2.将所述窄脉冲波形作为发射波形，并获取示波器采集的超声探头表面的通道透镜回波信号，并记录超声探头的匹配层编号以及通道透镜回波峰值；

S3.根据记录的通道透镜回波峰值，判断是否需要更改超声探头的匹配层阻抗，若是，则执行步骤S1-S2；若否，则执行步骤S4；

S4.将所述通道透镜回波峰值所对应的匹配层作为最终的超声探头匹配层。

2.根据权利要求1所述的一种基于透镜回波评估超声探头匹配层阻抗的方法，其特征在于，所述步骤S1之前还包括：探头板与脉冲发射器连接，探头连接器安装于所述探头板中，所述探头连接器与超声探头连接，超声探头与示波器连接，所述超声探头置于空气中。

3.根据权利要求1所述的一种基于透镜回波评估超声探头匹配层阻抗的方法，其特征在于，所述步骤S2中记录的通道透镜回波峰值为通道透镜回波信号的最大值。

4.根据权利要求3所述的一种基于透镜回波评估超声探头匹配层阻抗的方法，其特征在于，所述步骤S2中记录的匹配编号为超声探头匹配层不同材料。

5.根据权利要求1所述的一种基于透镜回波评估超声探头匹配层阻抗的方法，其特征在于，所述步骤S3中判断是否需要更改超声探头的匹配层阻抗具体为判断所有材料匹配层是否未检测完毕，若否，则执行步骤S1-S2；若是，则执行步骤S4。

6.一种基于透镜回波评估超声探头匹配层阻抗的系统，其特征在于，包括步骤：

获取模块，用于获取脉冲发射器生成的窄脉冲波形，并存储所述窄脉冲波形；

记录模块，用于将所述窄脉冲波形作为发射波形，并获取示波器采集的超声探头表面的通道透镜回波信号，并记录超声探头的匹配层编号以及通道透镜回波峰值；

判断模块，用于根据记录的通道透镜回波峰值，判断是否需要更改超声探头的匹配层阻抗；

匹配层模块，用于将所述通道透镜回波峰值所对应的匹配层作为最终的超声探头匹配层。

7.根据权利要求6所述的一种基于透镜回波评估超声探头匹配层阻抗的系统，其特征在于，还包括：

连接模块，用于使探头板与脉冲发射器连接，探头连接器安装于所述探头板中，所述探头连接器与超声探头连接，超声探头与示波器连接，所述超声探头置于空气中。

8.根据权利要求6所述的一种基于透镜回波评估超声探头匹配层阻抗的系统，其特征在于，所述记录模块中记录的通道透镜回波峰值为通道透镜回波信号的最大值。

9.根据权利要求8所述的一种基于透镜回波评估超声探头匹配层阻抗的系统，其特征在于，所述记录模块中记录的匹配编号为超声探头匹配层不同材料。

10.根据权利要求6所述的一种基于透镜回波评估超声探头匹配层阻抗的系统，其特征在于，所述判断模块中判断是否需要更改超声探头的匹配层阻抗具体为判断所有材料匹配层是否未检测完毕。