[发明专利]一种光学性质可调氧化钼量子点的制备方法及其应用有效

专利信息
申请号: 202010657370.8 申请日: 2020-07-09
公开(公告)号: CN111690406B 公开(公告)日: 2022-12-23
发明(设计)人: 曹海燕;石文兵;董文飞;陈果 申请(专利权)人: 长江师范学院
主分类号: C09K11/68 分类号: C09K11/68;C09K11/70;C01G39/02;B82Y20/00;B82Y30/00;G01N21/64
代理公司: 重庆博凯知识产权代理有限公司 50212 代理人: 刘桢
地址: 408100 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 一种 光学 性质 可调 氧化钼 量子 制备 方法 及其 应用
【权利要求书】:

1.一种光学性质可调氧化钼量子点的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:

将H3P(Mo3O10)4•xH2O、谷胱甘肽和氨水加入水中并在超声条件下充分混合,得到混合溶液,然后将所述混合溶液转移至微波反应釜中微波加热至150~190℃,反应2~60min后,自然冷却后离心去除大颗粒,透析去除未反应的物质得到光学性质可调的氧化钼量子点;

所述H3P(Mo3O10)4•xH2O、谷胱甘肽和氨水的摩尔比为1:(40~42):(645~655)。

2.根据权利要求1所述光学性质可调氧化钼量子点的制备方法,其特征在于,所述混合溶液中H3P(Mo3O10)4•xH2O与水的质量体积比为1mg:(725~1000)mL。

3.利用光学性质可调氧化钼量子点测定高锰酸盐浓度的方法,其特征在于,将如权利要求1~2任一所述氧化钼量子点应用于测定高锰酸盐的浓度,包括如下步骤:

绘制高锰酸盐标准曲线:将所述氧化钼量子点和一系列浓度梯度的高锰酸盐标准溶液混合,用碳酸盐缓冲溶液定容至相同体积,取定容后的溶液在激发波长430 nm,发射波长500 nm处测定荧光强度,以高锰酸盐浓度为横坐标,相对荧光强度(I0-I)/I为纵坐标绘制标准曲线;其中,I0为高锰酸盐浓度为零时,氧化钼量子点的荧光强度,I为氧化钼量子点与不同浓度高锰酸盐共同存在时对应的荧光强度。

4.根据权利要求3所述利用光学性质可调氧化钼量子点测定高锰酸盐浓度的方法,其特征在于,所述氧化钼量子点和高锰酸盐标准溶液的摩尔比为(1000~10):1,所述碳酸盐为Na2CO3或K2CO3,所述碳酸盐缓冲溶液的pH值为7~11。

5.根据权利要求3所述利用光学性质可调氧化钼量子点测定高锰酸盐浓度的方法,其特征在于,所述高锰酸盐标准溶液的浓度分别为0μM,0.08μM,0.1μM,0.5μM,1μM,3μM,5μM,7μM,9μM,15μM,21μM,23μM,25μM,27μM ,29μM,31μM,37μM,39μM,50μM,70μM,80μM,90μM,100μM。

6.根据权利要求3所述利用光学性质可调氧化钼量子点测定高锰酸盐浓度的方法,其特征在于,所述的标准曲线回归方程为y =0.05967 + 0.05279x(0.08-25μM),R2 =0.9973,其中,y为(I0-I)/I,x为高锰酸盐浓度,单位为μM,R为相关系数。

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