[发明专利]一种光学性质可调氧化钼量子点的制备方法及其应用有效
申请号: | 202010657370.8 | 申请日: | 2020-07-09 |
公开(公告)号: | CN111690406B | 公开(公告)日: | 2022-12-23 |
发明(设计)人: | 曹海燕;石文兵;董文飞;陈果 | 申请(专利权)人: | 长江师范学院 |
主分类号: | C09K11/68 | 分类号: | C09K11/68;C09K11/70;C01G39/02;B82Y20/00;B82Y30/00;G01N21/64 |
代理公司: | 重庆博凯知识产权代理有限公司 50212 | 代理人: | 刘桢 |
地址: | 408100 *** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光学 性质 可调 氧化钼 量子 制备 方法 及其 应用 | ||
1.一种光学性质可调氧化钼量子点的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:
将H3P(Mo3O10)4•xH2O、谷胱甘肽和氨水加入水中并在超声条件下充分混合,得到混合溶液,然后将所述混合溶液转移至微波反应釜中微波加热至150~190℃,反应2~60min后,自然冷却后离心去除大颗粒,透析去除未反应的物质得到光学性质可调的氧化钼量子点;
所述H3P(Mo3O10)4•xH2O、谷胱甘肽和氨水的摩尔比为1:(40~42):(645~655)。
2.根据权利要求1所述光学性质可调氧化钼量子点的制备方法,其特征在于,所述混合溶液中H3P(Mo3O10)4•xH2O与水的质量体积比为1mg:(725~1000)mL。
3.利用光学性质可调氧化钼量子点测定高锰酸盐浓度的方法,其特征在于,将如权利要求1~2任一所述氧化钼量子点应用于测定高锰酸盐的浓度,包括如下步骤:
绘制高锰酸盐标准曲线:将所述氧化钼量子点和一系列浓度梯度的高锰酸盐标准溶液混合,用碳酸盐缓冲溶液定容至相同体积,取定容后的溶液在激发波长430 nm,发射波长500 nm处测定荧光强度,以高锰酸盐浓度为横坐标,相对荧光强度(I0-I)/I为纵坐标绘制标准曲线;其中,I0为高锰酸盐浓度为零时,氧化钼量子点的荧光强度,I为氧化钼量子点与不同浓度高锰酸盐共同存在时对应的荧光强度。
4.根据权利要求3所述利用光学性质可调氧化钼量子点测定高锰酸盐浓度的方法,其特征在于,所述氧化钼量子点和高锰酸盐标准溶液的摩尔比为(1000~10):1,所述碳酸盐为Na2CO3或K2CO3,所述碳酸盐缓冲溶液的pH值为7~11。
5.根据权利要求3所述利用光学性质可调氧化钼量子点测定高锰酸盐浓度的方法,其特征在于,所述高锰酸盐标准溶液的浓度分别为0μM,0.08μM,0.1μM,0.5μM,1μM,3μM,5μM,7μM,9μM,15μM,21μM,23μM,25μM,27μM ,29μM,31μM,37μM,39μM,50μM,70μM,80μM,90μM,100μM。
6.根据权利要求3所述利用光学性质可调氧化钼量子点测定高锰酸盐浓度的方法,其特征在于,所述的标准曲线回归方程为y =0.05967 + 0.05279x(0.08-25μM),R2 =0.9973,其中,y为(
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