[发明专利]一种构造样式判识方法

说明书

本发明涉及构造地质学领域，涉及一种构造样式判识方法，特别涉及一种动静态结合的定性、定量、定时的构造样式判识方法。其包括：获得研究区地质剖面和地质层位构造图；进行不同期次构造演化特征恢复，划分构造发育的不同期次，进行不同期次断层剖面组合样式判识；平面剖面特征相结合，进行断裂平面组合样式判识；重复以上步骤，明确研究区断裂平面组合样式；综合不同期次断层剖面组合特征和活动断裂组合展布特征，完成构造样式判识。本发明方法重建了构造样式判识方法，充分考虑了构造发育期次和断层活动特征，真实的反映了不同地质时期构造样式发育、叠加改造和演化过程，为后续构造成因机制分析提供依据。

技术领域

本发明涉及构造地质学领域，涉及一种构造样式判识方法，特别涉及一种动静态结合的定性、定量、定时的构造样式判识方法。

背景技术

所谓构造样式是指同一期构造运动、在同一应力环境下所产生的构造变形组合。它们应具有相似或相同的构造特征和变形机理。

目前构造样式的识别主要应用构造几何学特征，通过地震解释剖面或地质剖面上断层交切关系和平面上断裂的组合关系来“定性”判识。这种方法判识的构造样式是不同期次叠加改造的现今构造样式，剖面上断层组合是不同期断层的切割、叠加和改造的结果，平面上断裂组合也是本期活动断裂和后期断裂的组合，虽然简单，快捷的反映了现今构造样式。

但以上方法未考虑断层的活动性和断层发育期次，造成剖面上不同期次断层组合样式的叠加、改造和演化特征不明确，平面上为不同期次断裂的组合，造成当期活动断裂展布特征不清，影响了断裂的分期分级研究和圈闭有效性综合评价。

发明内容

本发明主要目的是提供一种构造样式判识方法，本发明方法在充分研究了不同期次断层活动性及发育演化特征的基础上，进行断裂不同期次划分，并结合断层活动性分析，完成不同期次断层剖面组合样式和断裂平面组合样式判识。

为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：

一种构造样式判识方法，其包括：

步骤1.获得研究区地质剖面和地质层位构造图；

步骤2.地质剖面平衡恢复，划分构造发育的不同期次，进行不同期次断层剖面组合样式判识；

步骤3.剖面断层活动特征和平面断裂展布特征相结合，进行断裂平面组合样式判识；

步骤4.重复步骤2、步骤3，对已划分的剖面断层组合样式和断裂平面组合样式进行检查和校正；

步骤5.综合不同期次断层剖面组合特征和活动断裂组合展布特征，完成构造样式判识。

优选地，在步骤1中，地质层位构造图为等深度构造图。

进一步优选地，通过对目的层进行精细构造解释，获得目的层等深度构造图。

优选地，在步骤1中，利用三维地震资料、地质资料，对目的层进行精细构造解释，输出目的层断裂展布图，剖面上选取具有典型断层组合特征的地震剖面，通过时深关系转换为地质剖面。

优选地，在步骤2中，利用平衡剖面技术，进行不同期次构造演化特征恢复，划分构造发育的不同期次，进行不同期次断层剖面组合样式判识。

优选地，在步骤3中，结合研究区断裂发育特征，平面剖面相结合，进行断裂不同期次断层活动性定量分析，理清本期活动断裂和取掉后期发育断裂，明确研究区沉积期活动断裂及展布特征，进而进行断裂平面组合样式判识。

进一步优选地，剖面断层活动性定量分析包括生长指数、活动速率和断层倾角测定分析。

优选地，在步骤4中，重复步骤2，根据本期活动断层的活动特征，对不同期已划分的剖面断层组合样式进行检查和校正。