[发明专利]反应力锥形貌测量方法、装置、计算机设备和系统

权利要求书

1.一种反应力锥形貌测量方法，其特征在于，所述方法包括：

获取反应力锥每一截面对应的各三维点数据，并生成所述截面对应的坐标矩阵；

对于每一所述坐标矩阵，获取第一权重系数、所述坐标矩阵和椭圆拟合参数之间的第一乘积，以及第二权重系数、所述坐标矩阵和所述椭圆拟合参数之间的第二乘积，并根据所述第一乘积的L1范数和所述第二乘积的L2范数，得到目标椭圆拟合参数，基于所述目标椭圆拟合参数确定所述坐标矩阵对应的所述截面的截面半径；

根据各所述截面的截面半径，得到所述反应力锥的半径，并基于所述反应力锥的半径输出所述反应力锥的三维形貌。

2.根据权利要求1所述的反应力锥形貌测量方法，其特征在于，获取反应力锥每一截面对应的各三维点数据的步骤，包括：

获取所述反应力锥的三维点云数据，以及所述三维点云数据对应形状的轴线方向；

根据所述轴线方向对所述三维点云数据进行划分，得到每一所述截面对应的各所述三维点数据。

3.根据权利要求1所述的反应力锥形貌测量方法，其特征在于，根据各所述截面的截面半径，得到所述反应力锥的半径的步骤，包括：

将各所述截面半径的平均值确认为所述反应力锥的半径。

4.根据权利要求1至3任一项所述的反应力锥形貌测量方法，其特征在于，根据所述第一乘积的L1范数和所述第二乘积的L2范数，得到目标椭圆拟合参数的步骤，包括：

求解以下混合能量泛函，得到所述目标椭圆参数：

其中，θ为所述椭圆拟合参数；w为所述第一权重系数；o表示对应元素相乘；P为所述坐标矩阵；‖ ‖₁为L1范数；1-w为所述第二权重系数；‖ ‖₂为L2范数；λ为拉格朗日参数；θ^T为所述椭圆拟合参数的转置；C为椭圆判别条件的矩阵表达；arg min_θ{}为获取函数取最小值时对应的θ。

5.根据权利要求4所述的反应力锥形貌测量方法，其特征在于，反应力锥形貌测量求解所述混合能量泛函，得到所述目标椭圆参数的步骤，包括：

引入辅助变量，对所述混合能量泛函进行变形，变形后的所述混合能量泛函为：

其中，s为辅助变量；s.t.为约束条件；

引入Bregman迭代变量，得到非受限的混合能量泛函，所述非受限的混合能量泛函为：

其中，μ为常数；t为Bregman迭代变量；

求解所述非受限的混合能量泛函，得到所述目标椭圆拟合参数。

6.根据权利要求5所述的反应力锥形貌测量方法，其特征在于，反应力锥形貌测量求解所述非受限的混合能量泛函，得到所述目标椭圆拟合参数的步骤，还包括：

采用标准的Shrink算子进行求解，得到所述辅助变量；

根据所述辅助变量和所述Bregman迭代变量，得到所述目标椭圆拟合参数。

7.一种反应力锥形貌测量装置，其特征在于，所述装置包括：

坐标矩阵获取模块，用于获取反应力锥每一截面对应的各三维点数据，并生成所述截面对应的坐标矩阵；

截面半径获取模块，用于对于每一所述坐标矩阵，分别获取第一权重系数、所述坐标矩阵和椭圆拟合参数之间的第一乘积，以及第二权重系数、所述坐标矩阵和所述椭圆拟合参数之间的第二乘积，并根据所述第一乘积的L1范数和所述第二乘积的L2范数，得到目标椭圆拟合参数，基于所述目标椭圆拟合参数确定对应所述坐标矩阵的所述截面的截面半径；

三维形貌输出模块，用于根据各所述截面的截面半径，得到所述反应力锥的半径，并基于所述反应力锥的半径输出所述反应力锥的三维形貌。

8.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。