[发明专利]一种温度检测设备的校准方法

权利要求书

1.一种温度检测设备的校准方法，其特征在于，所述校准方法包括：

获取在校准实验中通过温度检测设备对物质进行检测得到的实验熔化温度；

获取所述物质对应的标准熔化温度；

根据所述标准熔化温度以及所述实验熔化温度，对所述温度检测设备进行校准，得到校准后的温度检测设备；其中，所述校准后的温度检测设备用于在实际实验中对物质进行温度检测；

所述获取在校准实验中通过温度检测设备对物质进行检测得到的实验熔化温度，包括：

获取所述温度检测设备在各个时间点对物质进行检测得到的检测温度；

对所述各个时间点对应的检测温度进行处理，得到所述物质对应的实验熔化温度；

所述对所述各个时间点对应的检测温度进行处理，得到所述物质对应的实验熔化温度，包括：

响应针对所述检测温度的绘制操作，基于各个时刻对应的温度值，绘制所述物质对应的原始熔化温坪曲线；

响应针对所述原始熔化温坪曲线的计算操作，计算与所述原始熔化温坪曲线对应的微分曲线；

响应针对所述微分曲线的选择操作，确定与所述原始熔化温坪曲线对应的实验熔化温度；

所述响应针对所述原始熔化温坪曲线的计算操作，计算与所述原始熔化温坪曲线对应的微分曲线，包括：

响应针对所述原始熔化温坪曲线的一阶微分计算操作，生成与所述原始熔化温坪曲线对应的一阶微分曲线；

响应针对所述原始熔化温坪曲线的二阶微分计算操作，生成与所述原始熔化温坪曲线对应的二阶微分曲线；

所述响应针对所述微分曲线的选择操作，确定与所述原始熔化温坪曲线对应的实验熔化温度，包括：

响应针对所述一阶微分曲线的第一选择操作，确定所述一阶微分曲线中的极大值点为第一起始点及第一终止点；

响应针对所述二阶微分曲线的第二选择操作，确定所述二阶微分曲线中的平稳区间对应的起始点与终止点分别为第二起始点与第二终止点；

基于所述第一起始点、所述第一终止点、所述第二起始点及所述第二终止点，确定与所述原始熔化温坪曲线对应的实验熔化温度；

所述基于所述第一起始点、所述第一终止点、所述第二起始点及所述第二终止点，确定与所述原始熔化温坪曲线对应的实验熔化温度，包括：

基于所述第一起始点、所述第一终止点、所述第二起始点及所述第二终止点，确定多个拟合区间；

基于每个所述拟合区间，对所述原始熔化温坪曲线进行拟合，得到多条与所述原始熔化温坪曲线对应的拟合曲线；

从多条拟合曲线中，选取至少一条目标拟合曲线，并选取所述目标拟合曲线对应的物质熔化温度的平均值，作为所述原始熔化温坪曲线对应的实验熔化温度。

2.根据权利要求1所述的温度检测设备的校准方法，其特征在于，所述基于所述第一起始点、所述第一终止点、所述第二起始点及所述第二终止点，确定多个拟合区间，包括：

获取所述第一起始点与所述第二起始点之间的多个第一离散点，以及所述第一终止点与所述第二终止点之间的多个第二离散点；

将每个所述第一离散点与每个所述第二离散点进行一一组合，获得多个离散点组合，并确定每个所述离散点组合为一个拟合区间。

3.根据权利要求1所述的温度检测设备的校准方法，其特征在于，所述从多条拟合曲线中，选取至少一条目标拟合曲线，包括：

计算每条所述拟合曲线分别与所述原始熔化温坪曲线的相关系数；

根据多条拟合曲线分别对应的相关系数，从所述多条拟合曲线中，选取对应的所述相关系数大于预设阈值的拟合曲线，作为所述目标拟合曲线。

4.根据权利要求1所述的温度检测设备的校准方法，其特征在于，在获取所述检测温度时利用的是大口径金属碳-碳高温固定点黑体作为测量光谱辐射照度的直接辐射源，其中，大口径金属碳-碳高温固定点黑体的熔化温坪持续时间长、辐射信号强、辐射通量大，适用于利用直接辐射源测量光谱辐射照度的应用场景。

5.根据权利要求4所述的温度检测设备的校准方法，其特征在于，所述金属碳-碳为钨碳-碳，其中，钨碳-碳的熔化温度可达到3020.5K。