[发明专利]一种热电光软多维信息融合电路智能检测与故障诊断方法有效
申请号: | 202010665405.2 | 申请日: | 2020-07-11 |
公开(公告)号: | CN111862019B | 公开(公告)日: | 2023-04-11 |
发明(设计)人: | 孟双德;王可君 | 申请(专利权)人: | 北京唯实兴邦科技有限公司 |
主分类号: | G06F30/398 | 分类号: | G06F30/398;G06T7/00;G01R31/52;G01R31/54;G01R31/12;G01R31/26;G01R31/28;G07C3/14;G06F119/02;G06F119/08 |
代理公司: | 深圳紫晴专利代理事务所(普通合伙) 44646 | 代理人: | 林鹏 |
地址: | 100089 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电光 多维 信息 融合 电路 智能 检测 故障诊断 方法 | ||
1.一种热电光软多维信息融合电路智能检测与故障诊断方法,其特征在于,该方法包括以下步骤;
步骤一、建立标准板模型:制作良品电路板作为标准板,并将标准板放置到测试机台上,对标准板数据测试,计算机记录制作标准板模型;
所述标准板数据测试通过工作电流、工作电压驱动,热敏成像相机记录标准板上的每个像素点温度变化规律的透明电路板热像图,形成随时间变化标准板热像图的标准板数据模型;
步骤二、建立缺陷板模型:选取与标准板规格型号相同的缺陷电路板作为缺陷板,并将缺陷板放置到测试机台上,对缺陷板数据测试,计算机记录制作缺陷板模型;
所述缺陷板数据测试通过工作电流、工作电压驱动,热敏成像相机记录缺陷板上的每个像素点温度变化规律的透明电路板热像图,形成随时间变化的缺陷板热像图的缺陷板数据模型;
步骤三、比对像素差:选取相同驱动时间下,通过透明图像层叠,将缺陷板数据模型与标准板数据模型下的透明电路板热像图进行重合匹配,并将图像中对应像素点的热像图相减,形成比对像素差动态模型;
所述比对像素差前,缺陷板数据模型与标准板数据模型的热像图,进行消除测试环境温度变化影响算法预处理,再进行比对像素差;
步骤四、缺陷定位:根据比对像素差动态模型的像素点差异程度,快速定位缺陷板的缺陷位置;
步骤五、失效分析:对缺陷板的缺陷位置局部放大,并将缺陷位置与像素差动态模型的热像图和标准板对应位置的局部放大图进行比对,将像素点一一对应,快速找出缺陷位置处的缺陷板;
步骤六、故障因果逻辑分析:对缺陷板上的缺陷位置导致的异常情况进行分析,判断缺陷板的缺陷位置异常情况是否与该缺陷导致的理论结果一致;若结果一致,则进入步骤七;若结果不一致,则重新进行步骤五、步骤六的分析;
步骤七、失效仿真验证:通过步骤六分析出的缺陷板上的异常原因,修改标准板建模模型,得到缺陷板建模模型;通过对标准板建模模型和缺陷板建模模型进行故障热仿真、振动失效仿真验证,确认缺陷板缺陷导致的结果与缺陷板所测结果相同,从而确认缺陷板的最终缺陷原因。
2.根据权利要求1所述的一种热电光软多维信息融合电路智能检测与故障诊断方法,其特征在于,所述热敏成像相机20μm成像,热敏成像相机的精度为0.01℃。
3.根据权利要求1所述的一种热电光软多维信息融合电路智能检测与故障诊断方法,其特征在于,所述热敏成像相机采集7~14微米红外长红波。
4.根据权利要求1所述的一种热电光软多维信息融合电路智能检测与故障诊断方法,其特征在于,所述测试机台探测热电温升小于0.01℃时,使用平均值法来增加测试灵敏度和精确度。
5.根据权利要求1所述的一种热电光软多维信息融合电路智能检测与故障诊断方法,其特征在于,测试机台驱动电路板时,电路板短路引起的温升超过设置预设阈值时,测试机台自动控制继电保护装置停止供电。
6.根据权利要求1所述的一种热电光软多维信息融合电路智能检测与故障诊断方法,其特征在于,所述测试机台设置有对比测试排故探针。
7.根据权利要求1所述的一种热电光软多维信息融合电路智能检测与故障诊断方法,其特征在于,所述测试机台驱动测试前,对标准板、缺陷板、待测板进行功能测试、边界扫描测试。
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