[发明专利]拉伸试样应变片贴片位置的弹塑性变形评价方法有效
申请号: | 202010667201.2 | 申请日: | 2020-07-13 |
公开(公告)号: | CN111948042B | 公开(公告)日: | 2023-09-15 |
发明(设计)人: | 邱宇;鞠新华;孟杨;鹿宪宝;张清水;孙博 | 申请(专利权)人: | 首钢集团有限公司 |
主分类号: | G01N3/08 | 分类号: | G01N3/08 |
代理公司: | 北京华沛德权律师事务所 11302 | 代理人: | 马苗苗 |
地址: | 100041 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 拉伸 试样 应变 片贴片 位置 塑性变形 评价 方法 | ||
1.一种拉伸试样应变片贴片位置弹塑性变形的评价方法,其特征在于,所述方法包括:
在拉伸前的所述拉伸试样的轴向方向确定预设取样区域,所述预设取样区域包括:应变片贴片的顶端区域、分别沿应变片顶端的轴向方向距所述顶端区域ik的N个取样区域和分别沿应变片底端的轴向方向距所述顶端区域jk的M个取样区域;其中,i依次取值1,2,…N,j依次取值1,2,…M,k为预设距离;应变片贴片的顶端区域是指位于应变片顶端的区域,所述应变片的顶端朝向所述拉伸试样的平行段,所述应变片的底端朝向所述拉伸试样的夹持段;
在所述拉伸试样拉伸后,分别在每个预设取样区域中取样检测,获得每个所述预设取样区域对应的拉伸后的位错密度数据;
根据每个所述预设取样区域的所述拉伸后的位错密度数据和拉伸前的位置数据,绘制位错密度-位置关系图;其中,所述位错密度-位置关系图包括下降区和平台区;
判断所述顶端区域的位错密度数据是否处于所述平台区;若是,确定应变片的贴片区域属于所述拉伸试样的弹性变形区;若否,确定所述应变片的贴片区域属于所述拉伸试样的塑性变形区。
2.如权利要求1所述的评价方法,其特征在于,在确定所述应变片的贴片区域属于所述拉伸试样的塑性变形区之后,所述评价方法还包括:
从所述位错密度-位置关系图的平台区中确定目标区域的位置数据,将所述目标区域作为所述拉伸试样在拉伸前的应变片的贴片区域。
3.如权利要求1所述的评价方法,其特征在于,所述预设距离k的取值为2~5mm。
4.如权利要求1所述的评价方法,其特征在于,所述N或M的取值范围为1~5。
5.如权利要求1所述的评价方法,其特征在于,所述分别在每个预设取样区域中取样检测,获得每个所述预设取样区域对应的拉伸后的位错密度数据,具体包括:
分别在每个所述预设取样区域中取样制备透射电镜试样;
对所述透射电镜试样进行显微组织透射分析,获得显微组织成像图;所述显微组织成像图中包括位错线;
从所述显微组织成像图中确定每个所述预设取样区域对应的拉伸后的位错密度数据。
6.如权利要求5所述的评价方法,其特征在于,所述位错密度数据包括位错密度平均值和位错密度偏差值。
7.如权利要求6所述的评价方法,其特征在于,所述从所述显微组织成像图中确定每个所述预设取样区域对应的拉伸后的位错密度数据,具体包括:
在所述显微组织成像图中确定Q个目标微区;
分别在每个所述目标微区中测量位错密度,获得Q个位错密度值;
根据所述Q个位错密度值,确定每个所述预设取样区域对应的拉伸后的所述位错密度平均值和所述位错密度偏差值。
8.如权利要求1~7中任一权项所述的评价方法,其特征在于,所述拉伸试样为高速拉伸试样。
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