[发明专利]基于磁悬浮装置的柱形塑料件缩孔缺陷检测方法有效

专利信息
申请号: 202010667448.4 申请日: 2020-07-13
公开(公告)号: CN111650273B 公开(公告)日: 2022-07-08
发明(设计)人: 赵朋;唐道梵;沈亚强;郑建国;王庭瑜;颉俊;傅建中 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G01N27/82 分类号: G01N27/82
代理公司: 杭州知闲专利代理事务所(特殊普通合伙) 33315 代理人: 黄燕
地址: 310027 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 基于 磁悬浮 装置 塑料件 缩孔 缺陷 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于磁悬浮装置的柱形塑料件缩孔缺陷检测方法,其特征在于,包括:

(1)将待检测柱形塑料件悬浮于磁悬浮检测装置的顺磁性介质溶液中;

(2)稳定悬浮后,得到检测待检测柱形塑料件的悬浮高度和悬浮姿态;

(3)利用得到的悬浮高度和悬浮姿态信息,得出待检测柱形塑料件的缩孔分布和/或缩孔率;

所述磁悬浮检测装置包括两个同轴布置、同极相向、结构相同的磁铁;

所述缩孔率利用下式计算得到:

η为待检测柱形塑料件的缩孔率,ρs为待检测柱形塑料件的密度,k和b是常数;

所述ρs由检测待检测柱形塑料件的悬浮高度得到,ρs与检测待检测柱形塑料件悬浮高度之间的关系式通过拟合得到;

所述缩孔分布由如下体积矩Mv衡量:

其中,B0为所述磁铁的表面磁感应强度;Δχ=χsm,其中χs是待检测柱形塑料件的磁化率,χm是介质溶液的磁化率;V是待检测柱形塑料件的体积;λl为待检测柱形塑料件的惯量主轴,其计算公式为l∈{i,j,k},i,j,k为以待检测柱形塑料件形心为原点建立的随动坐标系的三个坐标轴,k方向为待检测柱形塑料件的中心轴方向;μ0为真空中磁化率;H为两块磁铁的间距;ρv和ρr分别是待检测柱形塑料件内部缩孔的密度和非缩孔物质的密度;θ为稳定悬浮后待检测柱形塑料件在介质溶液中的倾斜角度;

所述θ由以下公式计算得到:

d为待检测柱形塑料件的厚度;d’为稳定悬浮后待检测柱形塑料件最高点和最低点的距离;L待检测柱形塑料件的直径;

所述柱形塑料件为柱形抗磁性柱形塑料件,包括中心轴对称塑料件或者近似中心轴对称塑料件。

2.根据权利要求1所述的基于磁悬浮装置的柱形塑料件缩孔缺陷检测方法,其特征在于,所述两块磁铁为方形磁铁,待检测柱形塑料件悬浮于两块磁铁的中心线上。

3.根据权利要求1所述的基于磁悬浮装置的柱形塑料件缩孔缺陷检测方法,其特征在于,所采用的两块磁铁的表面磁感应强度为0.35~0.5T;两块磁铁之间的距离为45~60mm;介质溶液的磁化率在4.00×10-4-4.5×10-4

4.根据权利要求1所述的基于磁悬浮装置的柱形塑料件缩孔缺陷检测方法,其特征在于,所述k和b可通过两个或两个以上已知缩孔率和密度的样品计算得到。

5.根据权利要求1~4任一项所述的基于磁悬浮装置的柱形塑料件缩孔缺陷检测方法,其特征在于,将得到的缩孔分布和/或缩孔率与标准合格品的缩孔分布和/或缩孔率进行比对,得出是否存在缩孔缺陷的结论。

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