[发明专利]光纤通信中分布式插损回损测量装置及方法有效

专利信息
申请号: 202010667618.9 申请日: 2020-07-13
公开(公告)号: CN111756436B 公开(公告)日: 2021-05-04
发明(设计)人: 王辉文;张晓磊;温永强;张晓乔 申请(专利权)人: 武汉昊衡科技有限公司
主分类号: H04B10/071 分类号: H04B10/071
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 许美红
地址: 430074 湖北省武汉市东湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 光纤通信 分布式 插损回损 测量 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种光纤通信中分布式插损回损测量方法,其特征在于,包括以下步骤:

采集待测光路及校准模块区域上每一位置产生的拍频信号;

对该拍频信号进行非均匀快速傅立叶变换转化为拍频频谱,并将频率映射为具体的物理距离,得到连续点的位置信息,即OFDR曲线的横坐标;

由各点位置信号经光电探测器转换为电压值,得到各点反射率,各点反射率对应OFDR曲线的纵坐标,形成OFDR距离-反射率曲线;

从OFDR距离-反射率曲线中获取校准模块的测量反射率与长度,以R1/R0为反射率校准系数对曲线上每点的反射率进行校准,以L1/L0为长度校准系数对曲线上每点的长度进行校准,得到标准的OFDR距离-反射率曲线,其中R1为校准模块的标准反射率, L1为校准模块的长度,R0为校准模块反射率的测量值,L0为校准模块长度的测量值,校准后得到标准距离-反射率曲线;

由标准距离-反射率曲线计算待测光路沿线的回损值,具体选取一段覆盖回损待测区域的OFDR曲线,将该曲线上所有点的反射率逐一转化为强度后求和取对数,得到该区域的回损值;

由标准距离-反射率曲线计算待测光路沿线的插损值,具体在插损待测区域左右两侧各截取等长度的OFDR曲线,分别计算这两侧光纤的回损值RL1RL2,根据这两侧的回损值计算待测区域的插损ILIL= a | RL1-RL2|,其中a为插损校准系数,当两侧光纤瑞利散射系数相同时,a=1;当两侧光纤瑞利散射系数不一致时,a=A1/A2,其中A1为前段光纤的瑞利散射系数,A2为后段光纤的瑞利散射系数。

2.一种光纤通信中分布式插损回损测量装置,其特征在于,包括线性扫频激光器、光纤分束器、主干涉仪、辅助干涉仪、光电探测器、数据采集卡及计算机,其中:

所述线性扫频激光器用于提供波长周期性变化的光源;

所述光纤分束器将所述激光器输出的扫频激光分为两路,一路进入主干涉仪,另一路进入辅助干涉仪;

所述主干涉仪包括待测光路和校准模块,所述主干涉仪将光分为信号光和参考光,信号光经过待测光路和校准模块产生背向散射光,背向散射光与参考光发生拍频干涉,产生第一拍频信号;

所述辅助干涉仪产生拍频信号,作为外部时钟触发所述数据采集卡对第一拍频信号进行等频率间隔采样;

所述计算机根据权利要求1所述的光纤通信中分布式插损回损测量方法对采集的第一拍频信号进行处理,计算待测光路沿线的插损回损值。

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