[发明专利]触发电压可调双向ESD保护器件、结构及制备方法有效

专利信息
申请号: 202010667706.9 申请日: 2020-07-13
公开(公告)号: CN111863804B 公开(公告)日: 2021-09-07
发明(设计)人: 刘森;李建平;史林森;刘兴龙;罗建富 申请(专利权)人: 微龛(广州)半导体有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L21/8222
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 施婷婷
地址: 510663 广东省广州市高新技术*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 触发 电压 可调 双向 esd 保护 器件 结构 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种触发电压可调双向ESD保护结构,其特征在于,所述触发电压可调双向ESD保护结构至少包括:

位于衬底上的深N阱;

相邻设置于所述深N阱内的N阱及P阱;

以及,第一P+注入区及第二P+注入区,所述第一P+注入区设置于所述N阱内,所述第二P+注入区设置于所述N阱及所述P阱内,所述第一P+注入区与所述第二P+注入区之间设置有隔离区;

所述第一P+注入区、所述N阱及所述第二P+注入区构成第一PNP三极管,所述第一P+注入区、所述N阱及所述P阱构成第二PNP三极管,所述N阱与所述第二P+注入区的接触面积可调;

所述第一P+注入区引出阳极电极,所述第二P+注入区引出阴极电极。

2.根据权利要求1所述的触发电压可调双向ESD保护结构,其特征在于:所述第一P+注入区远离所述第二P+注入区的一侧及所述第二P+注入区远离所述第一P+注入区的一侧均设置有隔离区。

3.根据权利要求1或2所述的触发电压可调双向ESD保护结构,其特征在于:所述隔离区为浅沟槽隔离结构。

4.一种触发电压可调双向ESD保护结构的制备方法,其特征在于,所述触发电压可调双向ESD保护结构的制备方法至少包括:

提供一衬底,于所述衬底中形成深N阱;

于所述深N阱中形成相邻设置的N阱及P阱;

于所述N阱中形成隔离区及第一P+注入区,于所述N阱及所述P阱中形成第二P+注入区,所述隔离区介于所述第一P+注入区所述第二P+注入区之间;

在所述第一P+注入区引出阳极电极、在所述第二P+注入区引出阴极电极;

其中,所述第一P+注入区、所述N阱及所述第二P+注入区构成第一PNP三极管,所述第一P+注入区、所述N阱及所述P阱构成第二PNP三极管,所述N阱与所述第一P+注入区的接触面积可调。

5.根据权利要求4所述的触发电压可调双向ESD保护结构的制备方法,其特征在于:所述隔离区采用浅沟槽隔离工艺形成。

6.一种触发电压可调双向ESD保护器件,基于如权利要求1-3任意一项所述的触发电压可调双向ESD保护结构实现,其特征在于,所述触发电压可调双向ESD保护器件至少包括:

并联连接的第一PNP三极管及第二PNP三极管,所述第一PNP三极管与所述第二PNP三极管的发射区及基区共用;

所述第一PNP三极管与所述第二PNP三极管的集电极作为阴极电极引出,基极浮空,发射极作为阳极电极引出;所述第一PNP三极管的击穿电压小于所述第二PNP三极管的击穿电压。

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