[发明专利]触发电压可调双向ESD保护器件、结构及制备方法有效
申请号: | 202010667706.9 | 申请日: | 2020-07-13 |
公开(公告)号: | CN111863804B | 公开(公告)日: | 2021-09-07 |
发明(设计)人: | 刘森;李建平;史林森;刘兴龙;罗建富 | 申请(专利权)人: | 微龛(广州)半导体有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L21/8222 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 施婷婷 |
地址: | 510663 广东省广州市高新技术*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 触发 电压 可调 双向 esd 保护 器件 结构 制备 方法 | ||
1.一种触发电压可调双向ESD保护结构,其特征在于,所述触发电压可调双向ESD保护结构至少包括:
位于衬底上的深N阱;
相邻设置于所述深N阱内的N阱及P阱;
以及,第一P+注入区及第二P+注入区,所述第一P+注入区设置于所述N阱内,所述第二P+注入区设置于所述N阱及所述P阱内,所述第一P+注入区与所述第二P+注入区之间设置有隔离区;
所述第一P+注入区、所述N阱及所述第二P+注入区构成第一PNP三极管,所述第一P+注入区、所述N阱及所述P阱构成第二PNP三极管,所述N阱与所述第二P+注入区的接触面积可调;
所述第一P+注入区引出阳极电极,所述第二P+注入区引出阴极电极。
2.根据权利要求1所述的触发电压可调双向ESD保护结构,其特征在于:所述第一P+注入区远离所述第二P+注入区的一侧及所述第二P+注入区远离所述第一P+注入区的一侧均设置有隔离区。
3.根据权利要求1或2所述的触发电压可调双向ESD保护结构,其特征在于:所述隔离区为浅沟槽隔离结构。
4.一种触发电压可调双向ESD保护结构的制备方法,其特征在于,所述触发电压可调双向ESD保护结构的制备方法至少包括:
提供一衬底,于所述衬底中形成深N阱;
于所述深N阱中形成相邻设置的N阱及P阱;
于所述N阱中形成隔离区及第一P+注入区,于所述N阱及所述P阱中形成第二P+注入区,所述隔离区介于所述第一P+注入区所述第二P+注入区之间;
在所述第一P+注入区引出阳极电极、在所述第二P+注入区引出阴极电极;
其中,所述第一P+注入区、所述N阱及所述第二P+注入区构成第一PNP三极管,所述第一P+注入区、所述N阱及所述P阱构成第二PNP三极管,所述N阱与所述第一P+注入区的接触面积可调。
5.根据权利要求4所述的触发电压可调双向ESD保护结构的制备方法,其特征在于:所述隔离区采用浅沟槽隔离工艺形成。
6.一种触发电压可调双向ESD保护器件,基于如权利要求1-3任意一项所述的触发电压可调双向ESD保护结构实现,其特征在于,所述触发电压可调双向ESD保护器件至少包括:
并联连接的第一PNP三极管及第二PNP三极管,所述第一PNP三极管与所述第二PNP三极管的发射区及基区共用;
所述第一PNP三极管与所述第二PNP三极管的集电极作为阴极电极引出,基极浮空,发射极作为阳极电极引出;所述第一PNP三极管的击穿电压小于所述第二PNP三极管的击穿电压。
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H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
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